[发明专利]在基板间隙中形成氧化物牺牲衬层的氧气SACVD方法无效
申请号: | 200880018449.3 | 申请日: | 2008-06-05 |
公开(公告)号: | CN102203921A | 公开(公告)日: | 2011-09-28 |
发明(设计)人: | 郑义;萨沙·J·奎斯金;凯达尔·萨普尔;尼汀·K·英格尔;袁正 | 申请(专利权)人: | 应用材料股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/311 | 分类号: | H01L21/311 |
代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人: | 徐金国;钟强 |
地址: | 美国加*** | 国省代码: | 美国;US |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明描述了一种形成和去除氧化物牺牲层的方法。该方法包括在基板上形成阶梯,其中该阶梯具有顶部和侧壁。该方法也可包括通过分子氧和四乙氧基硅烷(TEOS)的化学气相沉积而在阶梯周围形成该氧化物牺牲层,其中该氧化物层形成在该阶梯的顶部和侧壁上。该方法也可包括:去除该氧化物层和该阶梯的顶部部分;去除该基板通过去除该阶梯而暴露出的部分,以形成蚀刻基板;以及从该蚀刻基板中去除整个该氧化物牺牲层。 | ||
搜索关键词: | 间隙 形成 氧化物 牺牲 氧气 sacvd 方法 | ||
【主权项】:
一种形成和去除氧化物牺牲层的方法,该方法包括:在基板上形成阶梯(step),其中该阶梯具有顶部和侧壁;通过分子氧和含硅前驱物的化学气相沉积在该阶梯周围形成该氧化物牺牲层,其中该氧化物牺牲层形成在该阶梯的顶部和侧壁上;去除该氧化物牺牲层和该阶梯的顶部部分,同时留下该氧化物牺牲层的剩余部分,该剩余部分包括至少部分上述侧壁;去除通过去除该阶梯而暴露出的该基板的部分,以形成蚀刻基板;以及从该蚀刻基板中去除该氧化物牺牲层的该剩余部分。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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