[发明专利]延迟时间测量电路以及方法无效
申请号: | 200880020338.6 | 申请日: | 2008-06-17 |
公开(公告)号: | CN101680920A | 公开(公告)日: | 2010-03-24 |
发明(设计)人: | 李芳远;郑德暎;申荣昊;李济赫;李柱旼 | 申请(专利权)人: | 艾勒博科技股份有限公司 |
主分类号: | G01R27/00 | 分类号: | G01R27/00 |
代理公司: | 北京铭硕知识产权代理有限公司 | 代理人: | 韩明星;王青芝 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | 本发明提供一种延迟时间测量电路及方法。由于根据本发明的延迟时间量测电路及方法利用具有回馈结构的延迟链,因此可量测的延迟时间不受限制。此外,可减少构成延迟链的延迟组件的数量,以便可以在较小的布置区域中实现延迟时间量测电路。 | ||
搜索关键词: | 延迟时间 测量 电路 以及 方法 | ||
【主权项】:
1.一种延迟时间测量电路,包括:延迟链单元,用于选择反馈信号或指示延迟时间测量的开始的基准信号,以接收所述选择的信号作为输入信号,并具有串联连接的多个延迟元件以对所述输入信号进行延迟,所述延迟链单元使所述经延迟的输入信号反相、输出所述反相信号作为所述反馈信号、以及对所述反相信号的反馈重复次数进行计数以输出迭代计数信号;代码产生单元,用于对测量信号与所述输入信号以及由除最末延迟元件之外的延迟元件所施加的多个延迟信号的每个进行比较,以测量所述测量信号相对于所述基准信号的延迟时间,以产生代码信号;以及解码器,用于对所述代码信号及所述迭代计数信号进行解码,以输出测量延迟值。
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