[发明专利]可测试的集成电路及测试方法无效
| 申请号： | 200880020769.2 | 申请日： | 2008-06-09 |
| 公开（公告）号： | CN101688896A | 公开（公告）日： | 2010-03-31 |
| 发明（设计）人： | 劳伦·苏埃夫;埃曼努埃尔·艾里 | 申请（专利权）人： | NXP股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/317 | 分类号： | G01R31/317;H01L23/50 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人： | 王波波 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
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| 摘要： | 公开了包括多个电路部分(130)的集成电路(100)，每一个电路部分具有经由开关(152、154)群(140)与全局供电轨(160)耦合的内部供电轨(170)，开关(152、154)群(140)在内部供电轨(170)和全局供电轨(160)之间并联耦合。每一个开关(152、154)群(140)包括具有第一尺寸的第一开关(152)和具有第二尺寸的第二开关(154)，无缺陷的第一开关(512)的电阻高于无缺陷的第二开关(154)。该IC(100)还包括用于在测试模式中测试各个开关(152；154)群(140)的测试布置。该测试布置包括测试控制输入；耦合到各个内部供电轨(170)的测试输出，以及耦合到测试控制输入的、用于在测试模式下开启所选开关(152；154)群(140)的控制装置(110、114、116)。控制装置包括第一选择装置(114)，用于在测试模式下选择性地开启所选群(140)的第一开关(152)，以及第二选择装置(116)，用于在测试模式下选择性地开启所选群(140)的第二开关(154)。这种布置允许精确测量全局供电轨(160)和电路部分(130)的内部供电轨(170)之间的功率开关(152；154)的电阻，从而利于检测这些开关(152；154)中的阻性缺陷和固定(stuck-at)缺陷。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 集成电路 方法 | ||
【主权项】：
1、一种集成电路(100)，包括：多个电路部分(130)，所述电路部分中的每一个具有经由开关(152；154)群(140)与全局供电轨(160)耦合的内部供电轨(170)，所述开关(152；154)群(140)在内部供电轨(170)和全局供电轨(160)之间并联耦合，每一个开关(152；154)群(140)包括具有第一尺寸的第一开关(152)和具有第二尺寸的第二开关(154)，无缺陷的第一开关(512)的电阻高于无缺陷的第二开关(154)；以及测试布置，用于在所述集成电路(100)的测试模式中测试各个开关(152；154)群(140)，所述测试布置包括：测试控制输入；耦合到各个内部供电轨(170)的测试输出；耦合到所述测试控制输入的控制装置(110、114、116)，用于在测试模式下开启所选开关(152；154)群(140)，所述控制装置包括第一选择装置(114)，用于在测试模式下选择性地开启所选群(140)的所述第一开关(152)，以及第二选择装置(116)，用于在测试模式下选择性地开启所选群(140)的第二开关(154)。
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