[发明专利]半导体装置及其制造方法无效

专利信息
申请号: 200880022092.6 申请日: 2008-08-07
公开(公告)号: CN101689539A 公开(公告)日: 2010-03-31
发明(设计)人: 定别当裕康 申请(专利权)人: 卡西欧计算机株式会社
主分类号: H01L23/538 分类号: H01L23/538
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 代理人: 郝文博;王 琼
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 一种半导体装置包括半导体结构,设置有半导体基底和多个用于外部连接的电极(13),设置在半导体基底的下面。下层绝缘膜(1)设置在半导体结构的下面和周围。多个下层布线(22,22A)电连接到半导体结构的用于外部连接的电极,并且设置在下层绝缘膜的下面。绝缘层(31)设置在下层绝缘膜上,位于半导体结构的边缘中。上层绝缘膜(32)设置在半导体结构和绝缘层上。多个上层布线(33,33A)设置在上层绝缘膜上。半导体结构和绝缘层安装在其上的基板(51)被去除。
搜索关键词: 半导体 装置 及其 制造 方法
【主权项】:
1.一种半导体装置,包括:半导体结构(2),具有半导体基底(4)和设置在半导体基底下面的多个用于外部连接的电极(13);下层绝缘膜(1),设置在半导体结构的下面和周围;多个下层布线(22,22A),电连接到半导体结构的用于外部连接的电极,并且设置在下层绝缘膜的下面;绝缘层(31),设置在下层绝缘膜上,位于半导体结构的周围;上层绝缘膜(32),设置在半导体结构和绝缘层上;和多个上层布线(33,33A),设置在上层绝缘膜上,其中下层绝缘膜安装在其上的基板(51)被去除。
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