[发明专利]绝对高分辨率分段或转数计数器有效

专利信息
申请号: 200880103160.1 申请日: 2008-08-07
公开(公告)号: CN101821591A 公开(公告)日: 2010-09-01
发明(设计)人: W·梅纳特;T·泰尔 申请(专利权)人: W·梅纳特;T·泰尔
主分类号: G01D5/14 分类号: G01D5/14;G01D5/245;G01P3/487
代理公司: 北京润平知识产权代理有限公司 11283 代理人: 周建秋;王凤桐
地址: 德国奥*** 国省代码: 德国;DE
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 绝对高分辨率线性分段或转数计数器作为具有独立可行的中间方案的单芯片方案,优选地,作为具有韦根元件的绝对磁性多圈,用于对转数或段数进行计数,以及用作计数器、存储器和处理电路的单独电源,其中用于细分辨率的附加传感器和μ控制器是总IC的组件。
搜索关键词: 绝对 高分辨率 分段 转数 计数器
【主权项】:
一种绝对高分辨率分段或转数计数器,包括以下元件:至少一个活动励磁磁体(EM1);韦根元件(WE),包括铁磁元件(FE),该铁磁元件(FE)被感应线圈(SP)沿轴向环绕;至少一个附加传感器元件(SE);分别用于分段或旋转计数器的控制逻辑和功率控制器(SV);至少一个具有非易失性数据存储器的计数器单元(ZD);这些元件用于确定针对计数器值的完整信息,并用于所述附加传感器元件(SE)、控制逻辑和能量控制器(SV)以及非易失性数据存储器(ZD)的内部供应;以及用于段数或转数的细分辨率的附加传感器(ZS);和分别用于多圈应用的μ控制器或逻辑(MC);其特征在于,韦根元件(WE)、附加传感器元件(SE)、控制逻辑和能量控制器(SV)、具有非易失性数据存储器的计数器单元(ZD)、附加传感器(ZS)以及μ控制器(MC)中的元件分别被集成到目标IC,该目标IC通过在IC级通过一些集成步骤包括一个或一些元件而被组合成单芯片方案,从而由集成步骤产生的目标IC在技术和经济上是自支持方案。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于W·梅纳特;T·泰尔,未经W·梅纳特;T·泰尔许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200880103160.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top