[发明专利]绝对高分辨率分段或转数计数器有效
申请号: | 200880103160.1 | 申请日: | 2008-08-07 |
公开(公告)号: | CN101821591A | 公开(公告)日: | 2010-09-01 |
发明(设计)人: | W·梅纳特;T·泰尔 | 申请(专利权)人: | W·梅纳特;T·泰尔 |
主分类号: | G01D5/14 | 分类号: | G01D5/14;G01D5/245;G01P3/487 |
代理公司: | 北京润平知识产权代理有限公司 11283 | 代理人: | 周建秋;王凤桐 |
地址: | 德国奥*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | 绝对高分辨率线性分段或转数计数器作为具有独立可行的中间方案的单芯片方案,优选地,作为具有韦根元件的绝对磁性多圈,用于对转数或段数进行计数,以及用作计数器、存储器和处理电路的单独电源,其中用于细分辨率的附加传感器和μ控制器是总IC的组件。 | ||
搜索关键词: | 绝对 高分辨率 分段 转数 计数器 | ||
【主权项】:
一种绝对高分辨率分段或转数计数器,包括以下元件:至少一个活动励磁磁体(EM1);韦根元件(WE),包括铁磁元件(FE),该铁磁元件(FE)被感应线圈(SP)沿轴向环绕;至少一个附加传感器元件(SE);分别用于分段或旋转计数器的控制逻辑和功率控制器(SV);至少一个具有非易失性数据存储器的计数器单元(ZD);这些元件用于确定针对计数器值的完整信息,并用于所述附加传感器元件(SE)、控制逻辑和能量控制器(SV)以及非易失性数据存储器(ZD)的内部供应;以及用于段数或转数的细分辨率的附加传感器(ZS);和分别用于多圈应用的μ控制器或逻辑(MC);其特征在于,韦根元件(WE)、附加传感器元件(SE)、控制逻辑和能量控制器(SV)、具有非易失性数据存储器的计数器单元(ZD)、附加传感器(ZS)以及μ控制器(MC)中的元件分别被集成到目标IC,该目标IC通过在IC级通过一些集成步骤包括一个或一些元件而被组合成单芯片方案,从而由集成步骤产生的目标IC在技术和经济上是自支持方案。
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