[发明专利]低阻抗晶圆穿孔有效

专利信息
申请号: 200880104019.3 申请日: 2008-06-27
公开(公告)号: CN101785103A 公开(公告)日: 2010-07-21
发明(设计)人: 彼得·尼尔森 申请(专利权)人: AAC微技术有限公司
主分类号: H01L23/48 分类号: H01L23/48;B81B7/00;H01L21/768;H01L23/52;H05K3/40;H05K3/42
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所 11277 代理人: 刘新宇;张会华
地址: 瑞典乌*** 国省代码: 瑞典;SE
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摘要: 发明提供一种晶圆(3),该晶圆(3)包括由晶圆通路孔(9)和至少第一导电涂层(25)形成的贯通晶圆(3)的晶圆穿孔(7)。晶圆通路孔(9)的除缩颈(23)之外的大致竖直的侧壁(11)提供在晶圆上占据小面积的可靠的晶圆穿孔(7)。晶圆(3)优选是由如硅等半导体材料或玻璃陶瓷制成的。本发明还说明了这种晶圆(3)的制造方法。
搜索关键词: 阻抗 穿孔
【主权项】:
一种晶圆(3),其包括从所述晶圆(3)的上侧(4)延伸到下侧(5)的晶圆穿孔(7),其中,所述晶圆穿孔(7)包括晶圆通路孔(9),所述晶圆通路孔(9)的侧壁(11)至少部分地覆盖有第一导电涂层(25),所述晶圆(3)的特征在于,所述晶圆通路孔(9)至少包括具有大致竖直的侧壁(16)的第一部分(13)和形成缩颈(23)的第二部分(14),该缩颈(23)至少具有在所述晶圆通路孔(9)中朝向所述上侧变宽的上倾斜侧壁(20)。
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