[发明专利]被检体的缺陷检查方法有效
| 申请号： | 200880104958.8 | 申请日： | 2008-09-01 |
| 公开（公告）号： | CN101796381B | 公开（公告）日： | 2013-05-01 |
| 发明（设计）人： | 波多野达彦;宫下晃一;四方功 | 申请（专利权）人： | 日本碍子株式会社 |
| 主分类号： | G01M3/20 | 分类号： | G01M3/20;G01M3/00;G01M3/38;G01N15/08;G01N21/88 |
| 代理公司： | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人： | 许静 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供一种被检体的缺陷检查方法，其包括以下过程：(1)将含有微粒的气体加压后送出到被检体的一个端面，在被检体的另一端面附近与所述另一端面平行地照射第一激光，而且从与所述另一端面垂直的位置对所述另一端面进行拍摄的过程；(2)将含有微粒的气体加压后送出到被检体的一个端面，在被检体的另一端面附近与所述另一端面平行地照射第二激光，而且从与所述另一端面垂直的位置对所述另一端面进行拍摄的过程；以及(3)根据所述过程(1)和过程(2)的拍摄结果来确定被检体的缺陷部位的过程。 | ||
| 搜索关键词： | 被检体 缺陷 检查 方法 | ||
【主权项】：
一种被检体的缺陷检查方法，其特征在于，包括以下过程：(1)将含有微粒的气体加压后送出到被检体的一个端面，在被检体的另一端面附近与所述另一端面平行地照射第一激光，而且从与所述另一端面垂直的位置对所述另一端面进行拍摄的过程；(2)将含有微粒的气体加压后送出到被检体的一个端面，在被检体的另一端面附近与所述另一端面平行地照射在同一平面上与第一激光对置的第二激光，而且从与所述另一端面垂直的位置对所述另一端面进行拍摄的过程；以及(3)根据所述过程(1)和过程(2)的拍摄结果的影像亮度和来确定被检体的缺陷部位的过程。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于日本碍子株式会社，未经日本碍子株式会社许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200880104958.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：检测分析人体脓毒症的方法
- 下一篇：用于制备微结构化制品的工具
