[发明专利]采用铁、钌或锇环戊二烯一氧化碳络合物通过CVD或ALD形成含金属的薄膜的方法有效

专利信息
申请号: 200880106320.8 申请日: 2008-07-24
公开(公告)号: CN101801987A 公开(公告)日: 2010-08-11
发明(设计)人: R·坎卓利亚;R·奥迪德拉;N·宝格;D·韦伯尼 申请(专利权)人: 西格玛-奥吉奇公司
主分类号: C07F15/00 分类号: C07F15/00;C07F15/02;C23C16/16;C23C16/18;C23C16/455
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 郭建新
地址: 美国密*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 提供了通过化学相沉积,特别是原子层沉积(ALD)和化学蒸气沉积(CVD)形成含金属的薄膜的方法。该方法包含将至少一种有机金属前体送递到基材,其中所述至少一种前体在结构上对应于式(II),其中:M是Ru、Fe或Os;R是C1-C10-烷基;X是C1-C10-烷基;和n是零、1、2、3、4或5。进一步提供了制备本文公开的前体的方法。
搜索关键词: 采用 锇环戊二烯 一氧化碳 络合物 通过 cvd ald 形成 金属 薄膜 方法
【主权项】:
通过原子层沉积形成含金属的薄膜的方法,该方法包含将至少一种前体送递到基材,其中所述前体在结构上对应于式II:Cp(R)nM(CO)2(X)(式II)其中:M是Ru、Fe或Os;R是C1-C10-烷基;X是C1-C10-烷基;n是零、1、2、3、4或5。
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