[发明专利]对在井眼中使用的流体分析器进行校准的方法有效
申请号: | 200880106424.9 | 申请日: | 2008-07-03 |
公开(公告)号: | CN101802348A | 公开(公告)日: | 2010-08-11 |
发明(设计)人: | 董成利;理查多·瓦斯克斯;迈克尔·奥克依弗;皮特·S·亨格曼;奥利弗·慕林斯;藤泽刚;斯蒂芬妮·凡努夫依勒;理查德·杰克森;阿玛德·撒普拉 | 申请(专利权)人: | 普拉德研究及开发股份有限公司 |
主分类号: | E21B49/08 | 分类号: | E21B49/08;G01N1/00 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 汤雄军 |
地址: | 英属维尔京*** | 国省代码: | 维尔京群岛;VG |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种对在井眼中使用的流体分析器进行校准的方法。为在井下工具中使用的流体分析器生成校准数据的示例性方法包括以下步骤:将包括流体分析器的井下工具下入到井眼内的位置;当流体分析器位于所述位置处时,通过流体分析器测量校准流体或真空的特征值;为在所述位置处的校准流体或所述真空获得预期特征值;以及比较测量特征值与预期特征值,以为流体分析器生成校准值。 | ||
搜索关键词: | 眼中 使用 流体 分析器 进行 校准 方法 | ||
【主权项】:
一种为在井下工具中使用的流体分析器生成校准数据的方法,包括以下步骤:将包括流体分析器的井下工具下入到井眼内的位置;当所述流体分析器位于所述位置处时,通过所述流体分析器测量校准流体或真空的特征值;为在所述位置处的所述校准流体或所述真空获得预期特征值;以及比较测量特征值与所述预期特征值,以为所述流体分析器生成校准值。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于普拉德研究及开发股份有限公司,未经普拉德研究及开发股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200880106424.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:汽车总装生产线储存区入口控制系统
- 下一篇:基于研磨保偏光纤光栅的应力传感器