[发明专利]偏光膜检查设备及其方法无效

专利信息
申请号: 200880106624.4 申请日: 2008-06-19
公开(公告)号: CN101802661A 公开(公告)日: 2010-08-11
发明(设计)人: 都镇永;梁熙哲;郑锺晔 申请(专利权)人: 亚威科股份有限公司
主分类号: G02B5/30 分类号: G02B5/30;G02B5/02
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 臧建明
地址: 韩国大*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要: 发明提供一种偏光膜检查设备和方法,其中将气体垫用于输送机系统以在检查偏光的缺陷时快速传送和检查偏光膜,同时维持其平坦性。偏光膜检查设备包含:第一和第二气体对准单元,其各自包含一对用于注射气体的气体垫,所述对气体垫经垂直布置以彼此面对,使得在其间传送偏光膜;以及膜检查单元,其经配置以在将偏光膜从第一气体对准单元传送到第二气体对准单元时检查偏光膜。偏光膜检查方法包含:供应偏光膜;当所供应的偏光膜在通过均匀注射的气体平坦对准时传送所供应的偏光膜;在偏光膜被平坦对准且传送时检查偏光膜;以及在完成检查之后排出偏光膜。
搜索关键词: 偏光 检查 设备 及其 方法
【主权项】:
一种偏光膜检查设备,其包括:第一和第二气体对准单元,其各自包含一对用于注射气体的气体垫,所述对所述气体垫经垂直布置以彼此面对,使得在其间传送偏光膜;以及膜检查单元,其经配置以在将所述偏光膜从所述第一气体对准单元传送到所述第二气体对准单元时检查所述偏光膜。
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