[发明专利]逐段确定参数相关校正值近似曲线的方法和传感器设备有效
| 申请号： | 200880107724.9 | 申请日： | 2008-09-11 |
| 公开（公告）号： | CN101802555A | 公开（公告）日： | 2010-08-11 |
| 发明（设计）人： | 汉斯-彼得·霍姆;迈克尔·哈克纳;马库斯·施塔尔-奥弗格尔德 | 申请（专利权）人： | 弗劳恩霍夫应用研究促进协会 |
| 主分类号： | G01D3/036 | 分类号： | G01D3/036 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 王波波 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明提供了一种用于逐段确定参数相关校正值近似曲线的方法的实施例，包括：当所述第一参数值满足预定的条件或触发条件得以满足时，利用与传感器设备相关联的第一参数值来确定第一测量信号值，改变所述第一参数值以获得第二参数值，利用所述第二参数值来确定第二信号值，以及基于描述第二分段的函数关系、第一参数值、第二参数值、第一测量信号值、第二测量信号值以及初始校正值来确定针对第二参数范围的、所述校正值近似曲线的第二分段。 | ||
| 搜索关键词： | 确定 参数 相关 校正 近似 曲线 方法 传感器 设备 | ||
【主权项】：
一种针对传感器设备(100)的测量信号校正来逐段确定参数相关校正值近似曲线(240)的方法，其中，关于初始参数值(AW)而给定初始校正值(p0)和第一参数系数(PK1)，所述校正值近似曲线(240)包括基于初始校正值(AW)和第一参数系数(PK1)的、针对第一参数范围(215-1)的第一分段(240-1)，所述方法包括：当第一参数值(P1)满足预定的条件或触发条件得以满足时，利用与传感器设备(100)相关联的第一参数值(P1)来确定第一测量信号值；改变与传感器设备相关联的第一参数值(P1)以获得与所述传感器设备相关联的第二参数值(P2)；利用第二参数值(P2)来确定第二测量信号值；以及考虑第一参数值(P1)和第二参数值(P2)、第一测量信号值和第二测量信号值以及初始校正值(AW)，基于对针对第二参数范围(215-2)的、校正值近似曲线(240)的第二分段(240-2)加以描述的函数关系，来确定所述第二分段(240-2)，其中，确定校正值近似曲线(240)的第二分段(240-2)，使得第一参数范围(215-1)与第二参数范围(215-2)相邻；以及校正值近似曲线(240)的第一分段(240-1)和第二分段(240-2)彼此连续地相邻。
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