[发明专利]光学测量设备及其方法有效
| 申请号： | 200880108285.3 | 申请日： | 2008-07-29 |
| 公开（公告）号： | CN101842046A | 公开（公告）日： | 2010-09-22 |
| 发明（设计）人： | 理查德·霍利;罗宾·泰勒 | 申请（专利权）人： | 雷恩应用诊断有限公司 |
| 主分类号： | A61B5/00 | 分类号： | A61B5/00;A61B3/10 |
| 代理公司： | 厦门市新华专利商标代理有限公司 35203 | 代理人： | 渠述华;朱凌 |
| 地址： | 英国巴克夏*** | 国省代码： | 英国;GB |
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| 摘要： | 一种光学测量设备包括具有接收轴线(115)的光学系统(100)。光学系统(100)包括产生被引导到待被测量的位置(114)的探测束的来源(102)。光学系统的探测器(112)从待被测量的位置(114)接收反射束。该设备还包括从探测器(112)接收输出信号并且进行输出信号的特性估定从而确定待被测量的位置(114)与光学系统(100)的接收轴线(115)的对准度的处理资源。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 测量 设备 及其 方法 | ||
【主权项】：
一种光学测量设备，其特征在于包括：光学系统，包括：被布置成当在使用中时产生探测束的源，所述光学系统被布置成当在使用中时将所述探测束引导到待被测量的位置；被布置成当在使用中时从所述待被测量的位置接收反射束的探测器；和接收轴线；其中所述设备进一步包括：处理资源，所述处理资源被以可操作方式耦接到所述探测器并且当在使用中时能够估定由所述探测器产生的输出的特性，所述输出特性的估定相应于所述待被测量的位置与所述光学系统的接收轴线的对准度估定。
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