[发明专利]用于在接收器中训练参考电压电平及数据取样定时的方法及设备有效
申请号: | 200880113749.X | 申请日: | 2008-10-08 |
公开(公告)号: | CN101842776A | 公开(公告)日: | 2010-09-22 |
发明(设计)人: | 蒂莫西·M·霍利斯 | 申请(专利权)人: | 美光科技公司 |
主分类号: | G06F13/00 | 分类号: | G06F13/00 |
代理公司: | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人: | 沈锦华 |
地址: | 美国爱*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 本发明揭示用于针对接收器系统计算最佳取样点的位置的方法及设备。简单地说,第一种方法包含:确定所接收信号的最大电压容限及最大定时容限;及根据这些容限,确定最佳取样点,所述最佳取样点包括参考电压电平(Vref)及相对取样相位。所述最佳取样点的位置是基于所述最大电压容限的取样点及所述最大定时容限的取样点的位置。第二种方法包含:建立初始取样点;及接着连续精化所述取样点的电压及定时分量中的每一者,直到达到最佳取样点为止。 | ||
搜索关键词: | 用于 接收器 训练 参考 电压 电平 数据 取样 定时 方法 设备 | ||
【主权项】:
一种用于在接收器中优化信号的取样点的方法,其包含:在多个相位处对所述信号进行取样,且在所述多个相位中的每一者处计算电压容限; 从所述电压容限中确定最大电压容限且存储与所述最大电压容限相关联的第一参考电压电平及第一相位值;在多个参考电压电平处对所述信号进行取样,且在所述多个参考电压电平中的每一者处计算定时容限;从所述定时容限中确定最大定时容限且存储与所述最大定时容限相关联的第二参考电压电平及第二相位值;根据所述第一及第二相位值以及所述第一及第二参考电压电平确定所述信号的最佳取样点。
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