[发明专利]功率放大器及控制功率放大器的方法有效

专利信息
申请号: 200880113793.0 申请日: 2008-09-05
公开(公告)号: CN101842978A 公开(公告)日: 2010-09-22
发明(设计)人: 丸桥建一;田能村昌宏;岛胁秀德 申请(专利权)人: 日本电气株式会社
主分类号: H03F3/24 分类号: H03F3/24;H01L21/8234;H01L27/088;H03F3/60
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 赵伟
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明的一种功率放大器包括MOS晶体管(1)和输出匹配电路(5),所述MOS晶体管(1)具有180nm或更小的栅极长度,所述输出匹配电路(5)与所述MOS晶体管(1)的漏极端子相连。此外,向所述MOS晶体管(1)施加利用DC状态中可允许的电压值归一化的电压Vd_n作为漏源电压,其中Vd_n在0.5-0.9的范围内。ZL(=RL+j·XL)表示与利用MOS晶体管(1)的栅极宽度W(mm)归一化的、从漏极端子看输出匹配电路(5)时的负载阻抗相等的值,其中ZL的实部(RL)是RL>0.64×Vd_n+0.19(Ω·mm)且RL<0.64×Vd_n+1.73(Ω·mm)。
搜索关键词: 功率放大器 控制 方法
【主权项】:
一种功率放大器,包括MOS晶体管和输出匹配电路,所述MOS晶体管具有180nm或更小的栅极长度,所述输出匹配电路与所述MOS晶体管的漏极端子相连,所述功率放大器的特征在于:向所述MOS晶体管施加利用DC状态中可允许的电压值归一化的电压Vd_n作为漏源电压,其中Vd_n在0.5-0.9的范围内;ZL(=RL+j·XL)表示与利用所述MOS晶体管的栅极宽度W(mm)归一化的、在从漏极端子看所述输出匹配电路时的负载阻抗相等的值;以及ZL的实部(RL)为RL>0.64×Vd_n+0.19(Ω·mm)且RL<0.64×Vd_n+1.73(Ω·mm)。
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