[发明专利]间接辐射检测器无效
| 申请号： | 200880114694.4 | 申请日： | 2008-10-29 |
| 公开（公告）号： | CN101918860A | 公开（公告）日： | 2010-12-15 |
| 发明（设计）人： | R·卡米;A·奥尔特曼 | 申请（专利权）人： | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01T1/29 | 分类号： | G01T1/29 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 谢建云;谭祐祥 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于检测辐射(X)，例如用于医学成像系统的间接辐射检测器。该检测器具有像素元件(P1-P6)阵列，每个像素元件(P)被至少细分为第一子像素元件(PE1)和第二子像素元件(PE2)。每个子像素元件具有平行于像素元件阵列的表平面(60)的截面面积(A1，A2)。第一子像素元件(PE1)的截面面积(A1)不同于，例如小于，第二子像素元件(PE2)的截面面积(A2)，以提供可检测通量密度的动态范围。另外，第一子像素元件(PE1)具有设置在子像素元件侧面上的光敏装置(PS1)，该侧面基本正交于像素元件阵列的所述表平面，以提供良好的光学耦合。该检测器能够以较简单的检测器设计实现高的光子通量计数。 | ||
| 搜索关键词： | 间接 辐射 检测器 | ||
【主权项】：
一种检测辐射(X)的间接辐射检测器，该检测器包括：像素元件(P1 P6)阵列，每个像素元件(P)被至少细分为第一(PE1)子像素元件和第二(PE2)子像素元件，每个子像素元件具有平行于像素元件阵列的表平面(60)的截面面积(A1，A2)，其中第一子像素元件(PE1)的截面面积(A1)不同于第二子像素元件(PE2)的截面面积(A2)，并且其中第一子像素元件(PE1)包括设置在子像素元件侧面上的光敏装置(PS1)，该侧面基本正交于所述像素元件阵列的所述表平面。
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