[发明专利]使用串行受控的智能开关来测试器件的方法和装置无效
| 申请号： | 200880115805.3 | 申请日： | 2008-09-25 |
| 公开（公告）号： | CN101855561A | 公开（公告）日： | 2010-10-06 |
| 发明（设计）人： | 托米·爱德华·贝里;尼古拉斯·A·斯珀克 | 申请（专利权）人： | 佛姆法克特股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/02 | 分类号： | G01R31/02 |
| 代理公司： | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人： | 许静 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 描述了使用串行受控的智能开关来测试器件的方法和装置。在某些实施例中，能够提供包括多个串行地耦合以形成链的集成电路(IC)的探针卡组件，该链耦合至至少一个串行控制线，该多个IC包括耦合至测试探针的开关，每个开关是响应于至少一个串行控制线上的控制信号而可编程的。 | ||
| 搜索关键词： | 使用 串行 受控 智能 开关 测试 器件 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种探针卡组件，包括：多个集成电路(IC)，串行地耦合以形成链，所述链耦合至至少一个串行控制线，所述多个IC包括耦合至测试探针的开关，每个所述开关是响应于所述至少一个串行控制线上的控制信号而可编程的。
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