[发明专利]特征分析装置有效

专利信息
申请号: 200880119406.4 申请日: 2008-12-01
公开(公告)号: CN101889196A 公开(公告)日: 2010-11-17
发明(设计)人: 林义典;若叶博之;宫园浩一;小野洋子;森秀树 申请(专利权)人: 芝浦机械电子装置股份有限公司
主分类号: G01N21/956 分类号: G01N21/956;G06T1/00;G06T7/00;H01L21/66
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 黄纶伟;吕俊刚
地址: 日本神*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 提供一种能够在视觉上确认检查体的特征,能够比较少地进行基于特征的分类的自由度限制的特征分析装置。成为以下结构:取得检查体的检查体信息的单元(S1),分析所述检查信息,确定多个层级各自的特征参数的值(S2~S5),针对多个层级,分别根据多个特征参数各自的值和对应的方向生成单一的参数矢量(S2~S5),将所述参数矢量转换成作为预定的三维空间中的三维矢量的层级矢量(S2~S5),生成多个节在所述三维空间中的坐标值的组,作为表示所述检查体的特征信息,其中多个节是针对所述多个层级得到的多个层级矢量按该层级的顺序连接得到的(S6)。
搜索关键词: 特征 分析 装置
【主权项】:
一种特征分析装置,其将表示由预定形式的检查体信息定义的检查体的特征的多个类设定为多个层级,并且设定分别属于所述多个类的多个特征参数,对该多个特征参数分别分配同一平面上的方向,其中,该特征分析装置具有:取得成为分析对象的检查体的检查体信息的单元;参数值确定单元,其分析所取得的所述检查体信息,确定所述多个层级各自的特征参数的值;参数矢量生成单元,其针对所述多个层级,分别根据所述多个特征参数各自的值和对应的方向生成单一的参数矢量;矢量转换单元,其将分别针对所述多个层级得到的参数矢量转换成作为预定的三维空间中的三维矢量的层级矢量;以及特征信息生成单元,其生成多个节在所述三维空间中的坐标值的组,作为表示成为分析对象的所述检查体的特征的特征信息,其中所述多个节是将针对所述多个层级得到的多个层级矢量按该层级的顺序进行连接而得到的。
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