[发明专利]测试装置及校准方法无效
| 申请号： | 200880119492.9 | 申请日： | 2008-12-03 |
| 公开（公告）号： | CN101889212A | 公开（公告）日： | 2010-11-17 |
| 发明（设计）人： | 泷泽茂树 | 申请（专利权）人： | 爱德万测试株式会社 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京英特普罗知识产权代理有限公司 11015 | 代理人： | 齐永红 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种测试被测试器件的测试装置，包括多个信号生成部和判断被测试器件好坏的判断部，各个信号生成部具有：驱动部，将测试信号提供给被测试器件的对应管脚；电压测定部，根据被测试器件对应测试信号输出的信号，检出驱动部输出的信号的直流电压；输出侧调整部，根据电压测定部检出的直流电压，调整驱动部输出的信号的占空比。当向被测试器件提供规定的电流时，各个电平测定部被设定为可测定被测试器件上外加的电压电平。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 装置 校准 方法 | ||
【主权项】：
一种用于测试被测试器件的测试装置，其特征在于所述测试装置包括：驱动部，将测试信号提供给所述被测试器件的对应管脚；判断部，根据所述被测试器件对输出的与上述测试信号相对应的应答信号，判定所述被测试器件的好坏；电平测定部，用于检测所述驱动部输出的信号的直流电平；输出侧调整部，根据所述电平测定部检测出的所述直流电平，调整所述驱动部输出的信号的占空比。
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