[发明专利]各向异性导电接合组件有效

专利信息
申请号: 200880119897.2 申请日: 2008-12-01
公开(公告)号: CN101897083A 公开(公告)日: 2010-11-24
发明(设计)人: 畠中优介;堀田吉则;富田忠文 申请(专利权)人: 富士胶片株式会社
主分类号: H01R11/01 分类号: H01R11/01;H01B5/16;H01L23/14;H01R43/00
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 陈平
地址: 日本国*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 提供一种各向异性导电接合组件,其中各向异性导电膜被接合到至少一种导电材料上,所述至少一种材料选自金(Au)、银(Ag)、铜(Cu)、铝(Al)、镁(Mg)、镍(Ni)、铟掺杂的氧化锡(ITO)、钼(Mo)、铁(Fe)、Pd(钯)、铍(Be)和铼(Re)。所述组件的特征在于:所述各向异性导电膜具有绝缘基底和导电通道,所述导电通道由导电构件构成,彼此绝缘,并且在所述绝缘基底的厚度方向上延伸通过所述绝缘基底,导电通道的一端暴露于所述绝缘基底的一侧,并且另一端暴露于另一侧,所述导电通道的密度是3,000,000个/mm2以上,并且所述绝缘基底是具有微孔的铝基板的阳极氧化膜构成的结构体,并且每一个微孔沿着深度都没有分支结构。通过显著提高了导电通道的设置密度,即使结构体实现了更高的集成度,所述组件也可以被用作半导体器件等的电子部件的各向异性导电构件或用于检查的连接器。
搜索关键词: 各向异性 导电 接合 组件
【主权项】:
一种各向异性导电接合组件,其中各向异性导电膜被接合到至少一种材料的导电元件上,所述至少一种材料选自金(Au)、银(Ag)、铜(Cu)、铝(Al)、镁(Mg)、镍(Ni)、铟掺杂的氧化锡(下文中简称为″ITO″)、钼(Mo)、铁(Fe)、Pd(钯)、铍(Be)和铼(Re),其中所述各向异性导电膜具有绝缘基底和导电通道,所述导电通道由导电材料构成,彼此绝缘,并且在所述绝缘基底的厚度方向上延伸通过所述绝缘基底,所述导电通道的每一个的一端暴露于所述绝缘基底的一侧,并且所述导电通道的每一个的另一端暴露于所述绝缘基底的另一侧,其中所述导电通道的密度是3,000,000个/mm2以上,并且所述绝缘基底是由具有微孔的铝基板的阳极氧化膜构成的结构体,并且其中所述微孔在它们的深度方向上没有分支结构。
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