[发明专利]用于物位测量的方法有效
| 申请号： | 200880120522.8 | 申请日： | 2008-12-12 |
| 公开（公告）号： | CN101896797A | 公开（公告）日： | 2010-11-24 |
| 发明（设计）人： | 阿列克谢·马利诺夫斯基;赫伯特·施罗思;迪特马尔·施潘克 | 申请（专利权）人： | 恩德莱斯和豪瑟尔两合公司 |
| 主分类号： | G01F23/00 | 分类号： | G01F23/00;G01F23/26;G01F23/284 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人： | 邹璐;樊卫民 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 公开了一种用于物位测量的方法，其中在容器(1)中存在第一和/或第二填充物质(3，5)，对于容器(1)中含有的每一填充物质(3，5)可以确定一个静止位置，其对应于当容器(1)中的每一填充物质(3，5)的总量形成一个仅仅包含这种填充物质(3，5)的单一层时，由于容器(1)中含有的第一填充物质(3)的量以及容器(1)中含有的第二填充物质(5)的量而使得相应填充物质(3，5)的填充物质上表面所处的位置；其中第一填充物质(3)比第二填充物质(5)的比重小，并且两种填充物质(3，5)具有不同的介电常数(ε)，其中电磁信号(S)被发送进入容器(1)，在至少一个由容器(1)中含有的填充物质(3，5)产生的介质分界层上发生反射，其中信号(S)的一部分(Rx，Ry)被反射，并且对于每一反射的部分(Rx，Ry)都测量依赖于引起反射的介质分界层的位置的渡越时间(Tx，Ty)，这个渡越时间是测量信号(S)的这个部分(Rx，Ry)到达这个介质分界层并返回所需的；测量电容性探头(13)和参考电极(15)之间的电容(C)，该电容依赖于容器(1)中存在的填充物质(3，5)的量；并且依赖于测量电容(C)和测量渡越时间(Tx，Ty)，对于容器(1)中存在的每一填充物质(3，5)确定其填充物质上表面的静止位置。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测量 方法 | ||
【主权项】：
用于容器(1)中的物位测量的方法，第一填充物质(3)和/或第二填充物质(5)位于该容器中，其中第一填充物质(3)的比重比第二填充物质(5)的比重小，并且两种填充物质(3，5)具有不同的介电常数(ε)，其中‑将电磁信号(S)发送进入容器(1)，‑在至少一个由容器(1)中含有的填充物质(3，5)产生的介质边界处发生反射，其中所述信号(S)的一部分(Rx，Ry)被反射，并且‑对于每一被反射的部分(Rx，Ry)，测量一个依赖于引起反射的介质边界的位置的渡越时间(Tx，Ty)，该渡越时间是所述信号(S)的这个部分(Rx，Ry)抵达这个介质边界并返回所需的时间，‑测量在电容性探头(13)和参考电极(15)之间的电容(C)，该电容依赖于位于容器(1)中的填充物质(3，5)的量，以及‑基于测量的电容(C)和测量的渡越时间(Tx，Ty)，对于容器(1)中含有的每一种填充物质(3，5)确定一个位置，该位置对应于当容器中的每一种填充物质(3，5)的总量形成单一的仅含有这种填充物质(3，5)的层时，由于容器中含有的第一填充物质(3)的量以及容器(1)中含有的第二填充物质(5)的量而使得相应填充物质(3，5)的填充物质上表面所处的位置。
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