[发明专利]用于半导体发光器件的接触有效

专利信息
申请号: 200880120918.2 申请日: 2008-12-15
公开(公告)号: CN101897048A 公开(公告)日: 2010-11-24
发明(设计)人: R·I·奥尔达兹;J·E·埃普勒;P·N·格利洛特;M·R·克拉梅斯 申请(专利权)人: 皇家飞利浦电子股份有限公司;飞利浦拉米尔德斯照明设备有限责任公司
主分类号: H01L33/00 分类号: H01L33/00
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 谢建云;刘鹏
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 荷兰;NL
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摘要: AlGaInP发光器件被形成为薄的倒装芯片器件。该器件包含半导体结构,该半导体结构包含布置在n型区域(22)和p型区域(26)之间的AlGaInP发光层(24)。电连接到n和p型区域的n和p接触(34,32)均形成于半导体结构的同一侧上。半导体结构经由接触连接到载具(40)。生长衬底从半导体结构移除且厚透明衬底被略去,使得器件中半导体层的总厚度在一些实施例中小于15μm,在一些实施例中小于10μm。半导体结构的顶侧可被纹理化。
搜索关键词: 用于 半导体 发光 器件 接触
【主权项】:
一种方法,包含:在生长衬底之上生长包含布置在n型区域和p型区域之间的AlGaInP发光层的半导体结构;形成电连接到该半导体结构的该n型区域和p型区域的n接触和p接触,其中该接触均布置在该半导体结构的同一侧上以及其中该n接触和p接触的至少一个是反射性的;将该半导体结构连接到载具;以及在将该半导体结构连接到该载具之后,移除该生长衬底。
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