[发明专利]对裂变室测量信号进行处理的方法

摘要

本发明涉及一种用于确定可裂变物质沉积物的有效质量的方法，该方法的特征在于包括以下步骤：A)测量步骤(E1)，测量有效质量已知的可裂变物质沉积物的计数率，以形成矩阵[C]0，B)测量步骤(E2)，测量可裂变物质沉积物的计数率，以形成矩阵[C]，以及C)计算步骤(E3)，计算矩阵[m]形式的待确定有效质量，使得：[m]＝[C].I([a]×([a]0-1×[m]0-1×[C]0))，矩阵[a]是有效质量待确定的可裂变物质沉积物的同位素分析的已知矩阵，矩阵[a]0-1是与有效质量已知的可裂变物质沉积物相关联的同位素分析的已知矩阵[a]0的逆矩阵，矩阵[m]0-1是已知矩阵[m]0的逆矩阵，其中，矩阵[m]0的系数是已知有效质量。

主权项

1.一种用于确定分别放置在N个测量裂变室中的N个可裂变物质沉积物的有效质量的方法，其中，N是1或更大的整数，所述方法的特征在于包括以下步骤：A)第一测量步骤(E1)，在此期间测量分别放置在N个校准裂变室中的有效质量已知的N个可裂变物质沉积物的计数率，以形成已知可裂变物质沉积物的计数率矩阵[C]₀，其中，所述N个校准裂变室的外部尺寸分别与所述N个测量裂变室相同，B)第二测量步骤(E2)，在此期间测量放置在所述N个测量裂变室中的N个可裂变物质沉积物的计数率，以形成可裂变物质沉积物的计数率矩阵[C]，所述第二测量步骤是在与执行所述第一测量步骤的测量条件相同的测量条件下执行的，以及C)计算步骤(E3)，计算列矩阵[m]，使得：[m]＝[C].I([a]×([a]₀^-1×[m]₀^-1×[C]₀))，矩阵[m]的系数是待确定的有效质量，符号“.I”和“×”分别是“矩阵除法”运算符和“矩阵乘积”运算符，而矩阵[a]，[a]₀^-1和[m]₀^-1分别是：矩阵[a]，与有效质量待确定的N个可裂变物质沉积物相关联的同位素分析的已知矩阵，矩阵[a]₀^-1，与有效质量已知的N个可裂变物质沉积物相关联的同位素分析的已知矩阵[a]₀的逆矩阵，矩阵[m]₀^-1，已知矩阵[m]₀的逆矩阵，其中，矩阵[m]₀的系数是已知的N个可裂变物质沉积物的已知有效质量。