[发明专利]使涂在抗反射涂层上的光致抗蚀剂成像的方法无效
申请号: | 200880121715.5 | 申请日: | 2008-12-15 |
公开(公告)号: | CN101903830A | 公开(公告)日: | 2010-12-01 |
发明(设计)人: | D·阿布达拉;A·D·迪奥塞斯;A·G·蒂姆科;张汝志 | 申请(专利权)人: | AZ电子材料美国公司 |
主分类号: | G03F7/075 | 分类号: | G03F7/075;G03F7/09;G03F7/16 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 宓霞 |
地址: | 美国*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 本发明的方法涉及使涂在抗反射涂膜上的光致抗蚀剂膜成像,包括a)由抗反射涂料组合物形成抗反射涂膜,其中该组合物包含硅氧烷聚合物,b)用含水碱性处理溶液处理该抗反射膜,c)用含水清洗液清洗该经处理的抗反射膜,d)在该抗反射涂料组合物的膜上形成光致抗蚀剂的涂层,e)将该光致抗蚀剂膜成像式曝光,和f)用含水碱性显影溶液将该光致抗蚀剂显影。 | ||
搜索关键词: | 反射 涂层 光致抗蚀剂 成像 方法 | ||
【主权项】:
使涂在抗反射涂层上的光致抗蚀剂成像的方法,包括:a)由抗反射涂料组合物形成抗反射膜,其中该组合物包含硅氧烷聚合物,b)用含水碱性处理溶液处理该抗反射膜;c)用含水清洗液清洗该经处理的抗反射膜;d)在该抗反射涂料组合物的膜上形成光致抗蚀剂的涂层,e)将该光致抗蚀剂膜成像式曝光;和f)用含水碱性显影溶液将该光致抗蚀剂显影。
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