[发明专利]用于校准坐标测量装置的方法有效

专利信息
申请号: 200880125134.9 申请日: 2008-11-11
公开(公告)号: CN101918792A 公开(公告)日: 2010-12-15
发明(设计)人: S·昆兹曼;T·赫尔德;T·恩格尔 申请(专利权)人: 卡尔蔡司工业测量技术有限公司
主分类号: G01B21/04 分类号: G01B21/04
代理公司: 北京市中咨律师事务所 11247 代理人: 杨晓光;张静娟
地址: 德国奥*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 为了校准坐标测量装置,提供具有已知特性的参考测量对象。记录所述参考测量对象上的多个参考测量值。基于所述参考测量值且基于所述参考测量对象的所述已知特性,确定校准数据,其中所述校准数据包括第一数目的多项式系数,所述第一数目的多项式系数被设计为基于至少一个多项式变换校正非线性测量误差。根据本发明的一方面,在迭代方法中将所述第一数目的多项式系数减少到较少的第二数目,其中形成多项式系数的多个对,并且其中如果在对的所述多项式系数之间的统计相关性大于限定的阈值,则消除该对的多项式系数。
搜索关键词: 用于 校准 坐标 测量 装置 方法
【主权项】:
一种用于校准坐标测量机(10)的方法,包括以下步骤: 在所述坐标测量机(10)的测量体积中提供(48)具有已知特性的参考测量对象(32); 对所述参考测量对象(32)采集(52)多个参考测量值;以及 使用所述参考测量值且使用所述已知特性确定(58,64,66)校准数据, 其中所述校准数据包括第一数目的多项式系数(PK),所述第一数目的多项式系数(PK)被选择为借助于至少一个多项式变换来校正所述坐标测量机(10)的非线性测量误差,其特征在于,在迭代方法(70,72,74)中将所述第一数目的多项式系数(PK)减少到较少的第二数目,其中形成(80)多项式系数的多个对,并且其中在对的所述多项式系数之间的统计相关性大于限定的阈值时的每种情况下消除(88)所述对的所述多项式系数。
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