[发明专利]光学组件和磨损传感器无效
| 申请号： | 200880126151.4 | 申请日： | 2008-12-04 |
| 公开（公告）号： | CN102016492A | 公开（公告）日： | 2011-04-13 |
| 发明（设计）人： | 布赖恩·戴维斯 | 申请（专利权）人： | 布赖恩投资有限公司 |
| 主分类号： | G01B9/00 | 分类号： | G01B9/00;G01B11/22;G01B11/02;G01M11/08 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 李春晖;李德山 |
| 地址： | 澳大利亚西*** | 国省代码： | 澳大利亚;AU |
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| 摘要： | 一种磨损测量设备，包括：主体，在第一端具有可磨损部分；在所述主体内部的导光区域，所述导光区域在可磨损部分内具有反射部分。反射部分被配置为使被引导经过导光部分并且在反射部分处的光沿着导光部分向后反射。由反射部分反射的光的一个或更多个特性与可磨损部分的磨损程度有关。一种光学组件，包括纵向轴线以及沿着所述纵向轴线分隔开的多个反射元件。所述反射元件被布置为反射被引导在与所述纵向轴线基本对齐的方向上的光。反射的量是在沿着组件的长度的方向上组件的物理退化、剥落或磨损的函数。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 组件 磨损 传感器 | ||
【主权项】：
一种用于测量磨损的设备，所述设备包括：主体，在第一端处具有可磨损部分；以及所述主体的导光区域，其中，所述导光区域在所述可磨损部分内具有反射部分，其中，所述射部分被配置为使被引导经过所述导光部分并且在所述反射部分处的光沿着所述导光部分向后反射，其中，由所述反射部分反射的光的一个或更多个特性与所述可磨损部分的磨损程度有关。
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