[发明专利]用于大容量以及大电流的电迁移测试器

摘要

电子被测器件(DUT)可以被引入电路，所述电路具有与所述DUT并联连接的电压限制器。所述电路包括受控电流源，该受控电流源具有与所述DUT串联连接的输出电流。所述电压限制器的特征在于，当所述输出电流使得在没有所述电压限制器就位的情况下跨所述DUT的电压(Vdut)超过特定的最大电压Vmax时，所述输出电流中的至少一部分流过所述电压限制器，以将Vdut限制为小于或者等于Vmax。当所述输出电流使得Vdut小于或者等于Vmax时，电流不流过所述电压限制器。所述电路可以包括多个DUT，每个DUT与受控电流源的输出电流串联连接，其中电压限制器与每个DUT并联连接。

主权项

一种进行电子被测器件(DUT)的电磁测试的方法，所述方法包括：将所述DUT引入电路，所述电路包括：受控电流源，其中所述受控电流源具有与所述DUT串联连接的输出电流；以及与所述DUT并联连接的电压限制器，所述电压限制器的特征在于：当所述输出电流使得在没有所述电压限制器就位的情况下跨所述DUT的电压(Vdut)将超过特定的最大电压Vmax时，所述输出电流中的至少一部分流过所述电压限制器，以将Vdut限制为小于或者等于Vmax；并且当所述输出电流使得Vdut将小于或者等于Vmax时，电流不流过所述电压限制器。