[发明专利]氮游离基产生器、氮化处理装置、氮游离基的产生方法、以及氮化处理方法有效

专利信息
申请号: 200880130098.5 申请日: 2008-06-24
公开(公告)号: CN102067291A 公开(公告)日: 2011-05-18
发明(设计)人: 渡边谦资;山田义人 申请(专利权)人: 东芝三菱电机产业系统株式会社
主分类号: H01L21/31 分类号: H01L21/31;H01L21/318
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 张鑫
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 本氮游离基产生器(100)包括:多晶硅层(103),该多晶硅层(103)包含具有一个主面(104m)的纳米硅层(104);硅基板电极(102),该硅基板电极(102)形成于多晶硅层(103)的另一个主面(103n)上;表面电极(105),该表面电极(105)形成于纳米硅层(104)的一个主面(104m)上;第一腔室(101),该第一腔室(101)对上述这些元器件进行容纳;第一电源(109),该第一电源(109)对表面电极(105)施加正的电压V1;气体流入口(107),该气体流入口(107)使氮气流入第一腔室(101)内;氮游离基产生空间(140),该氮游离基产生空间(140)使施加上述正电压V1时从纳米硅层(104)的一个主面(104m)所发射的电子与氮气相接触而产生氮游离基;以及游离基流出口(108),该游离基流出口(108)使氮游离基从第一腔室(101)流出。据此,提供一种能产生氮游离基而不产生等离子体、并能因结构简单而小型化的氮游离基产生器。
搜索关键词: 游离 产生器 氮化 处理 装置 产生 方法 以及
【主权项】:
一种氮游离基产生器,其特征在于,包括:多晶硅层(103),该多晶硅层(103)包含具有一个主面(104m)的纳米硅层(104);硅基板电极(102),该硅基板电极(102)形成于所述多晶硅层(103)的另一个主面(103n)上;表面电极(105),该表面电极(105)形成于所述纳米硅层(104)的所述一个主面(104m)上;第一腔室(101),该第一腔室(101)用于容纳所述多晶硅层(103)、所述硅基板电极(102)、以及所述表面电极(105);第一电源(109),该第一电源(109)对所述表面电极(105)施加相对于所述硅基板电极(102)为正的电压;气体流入口(107),该气体流入口(107)使氮气流入所述第一腔室(101)内;氮游离基产生空间(140),该氮游离基产生空间(140)使施加所述正电压时从所述纳米硅层(104)的所述一个主面(104m)所发射的电子与氮气相接触以产生氮游离基;以及游离基流出口(108),该游离基流出口(108)使所述氮游离基从所述第一腔室(101)流出。
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