[发明专利]接合检测结构和接合结构有效
申请号: | 200910004644.7 | 申请日: | 2009-03-02 |
公开(公告)号: | CN101825650A | 公开(公告)日: | 2010-09-08 |
发明(设计)人: | 杨省枢;李筱婷;安超群 | 申请(专利权)人: | 台湾薄膜电晶体液晶显示器产业协会;中华映管股份有限公司;友达光电股份有限公司;瀚宇彩晶股份有限公司;奇美电子股份有限公司;财团法人工业技术研究院 |
主分类号: | G01R1/02 | 分类号: | G01R1/02;G01R31/02 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 陶凤波 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明公开了一种接合检测结构和接合结构。该接合检测结构包括至少一弹性凸块,位于基板上。接合检测结构选择性地包括至少一导电层,至少覆盖弹性凸块的顶部,其中弹性凸块或导电层至少具有一开口,且弹性凸块或导电层的顶部的观察面积大于开口的面积。 | ||
搜索关键词: | 接合 检测 结构 | ||
【主权项】:
一种接合检测结构,设置在基板上,包括:至少一弹性凸块,位于该基板上;以及选择性地包括至少一导电层,至少覆盖该弹性凸块的顶部,其中该弹性凸块或该导电层至少具有一开口,且该弹性凸块或该导电层的顶部的观察面积大于该开口的面积。
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