[发明专利]分子数测定装置及分子数测定方法无效
| 申请号： | 200910006929.4 | 申请日： | 2009-02-09 |
| 公开（公告）号： | CN101504368A | 公开（公告）日： | 2009-08-12 |
| 发明（设计）人： | 田名网健雄;青木秀年;佐藤纱绫;杉山由美子 | 申请（专利权）人： | 横河电机株式会社 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64;G01J1/00 |
| 代理公司： | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 | 代理人： | 何立波;张天舒 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种分子数测定装置及分子数测定方法，其可以通过将光量的测量值与单个分子的理论光量进行比较，计算试样中的分子数。基于与分子数有相关性的光量而定量地测定试样的分子数。该分子数测定方法具有：计算单个分子的理论光量的步骤；使用摄像系统测量试样的光量的步骤；以及基于测量出的试样的光量和计算出的理论光量之比，计算试样的分子数的步骤。 | ||
| 搜索关键词： | 分子 测定 装置 方法 | ||
【主权项】：
1. 一种分子数测定方法，其基于与试样的分子数有相关性的光量，对上述分子数定量地进行测定，其特征在于，具有：计算单个分子的理论光量的步骤；使用摄像系统测量上述试样的光量的步骤；以及基于测量出的上述试样的光量和计算出的上述理论光量之比，计算上述试样的分子数的步骤。
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