[发明专利]一种发光二极管芯片及其制造方法无效

专利信息
申请号: 200910010411.8 申请日: 2009-02-18
公开(公告)号: CN101807633A 公开(公告)日: 2010-08-18
发明(设计)人: 柯志杰;王强;武胜利;肖志国;陈向东 申请(专利权)人: 大连美明外延片科技有限公司
主分类号: H01L33/00 分类号: H01L33/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 116025 辽宁*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要: 发明提供一种发光二极管芯片及其制作方法,该芯片结构从下至上依次包括衬底、n型GaN层、p型GaN层、欧姆接触层、氮氧化硅膜层和打线电极,其特征是SiOxNy膜层由1~7层、单层折射率渐变的SiOxNy膜构成。本发明采用等离子增强化学气相淀积(PECVD)方法,在欧姆接触层上形成一组氮氧化硅膜层,反应气体包含SiH4、NH3和N2O,通过控制气体的流量,使SiOxNy膜层中的x值增大而y值减小,从而形成一组折射率渐变的SiOxNy膜。通过这组折射率渐变得SiOxNy膜层,可以缓冲原本巨大的折射率差异,减少全反射现象的发生,从而达到增加出光的目的,因此大大提高了器件的亮度。
搜索关键词: 一种 发光二极管 芯片 及其 制造 方法
【主权项】:
1.一种发光二极管芯片,其结构从下至上依次包括:衬底、N型氮化镓层、P型氮化镓层、欧姆接触层和打线电极,其特征在于,在欧姆接触层上具有一组1~7层的氮氧化硅膜;在所述的一组氮氧化硅膜上具有或者不具有一层二氧化硅膜;其中所述的氮氧化硅膜的单层成膜厚度为575~单层折射率为1.5~2.0,所述的二氧化硅膜的成膜厚度为折射率为1.47。
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