[发明专利]一种发光二极管芯片及其制造方法无效
申请号: | 200910010411.8 | 申请日: | 2009-02-18 |
公开(公告)号: | CN101807633A | 公开(公告)日: | 2010-08-18 |
发明(设计)人: | 柯志杰;王强;武胜利;肖志国;陈向东 | 申请(专利权)人: | 大连美明外延片科技有限公司 |
主分类号: | H01L33/00 | 分类号: | H01L33/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 116025 辽宁*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供一种发光二极管芯片及其制作方法,该芯片结构从下至上依次包括衬底、n型GaN层、p型GaN层、欧姆接触层、氮氧化硅膜层和打线电极,其特征是SiOxNy膜层由1~7层、单层折射率渐变的SiOxNy膜构成。本发明采用等离子增强化学气相淀积(PECVD)方法,在欧姆接触层上形成一组氮氧化硅膜层,反应气体包含SiH4、NH3和N2O,通过控制气体的流量,使SiOxNy膜层中的x值增大而y值减小,从而形成一组折射率渐变的SiOxNy膜。通过这组折射率渐变得SiOxNy膜层,可以缓冲原本巨大的折射率差异,减少全反射现象的发生,从而达到增加出光的目的,因此大大提高了器件的亮度。 | ||
搜索关键词: | 一种 发光二极管 芯片 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
1.一种发光二极管芯片,其结构从下至上依次包括:衬底、N型氮化镓层、P型氮化镓层、欧姆接触层和打线电极,其特征在于,在欧姆接触层上具有一组1~7层的氮氧化硅膜;在所述的一组氮氧化硅膜上具有或者不具有一层二氧化硅膜;其中所述的氮氧化硅膜的单层成膜厚度为575~单层折射率为1.5~2.0,所述的二氧化硅膜的成膜厚度为折射率为1.47。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于大连美明外延片科技有限公司,未经大连美明外延片科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200910010411.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。