[发明专利]一种集成电路的测试图形生成器无效
申请号: | 200910021525.2 | 申请日: | 2009-03-13 |
公开(公告)号: | CN101509954A | 公开(公告)日: | 2009-08-19 |
发明(设计)人: | 雷绍充;李璞;梁峰 | 申请(专利权)人: | 西安交通大学 |
主分类号: | G01R31/3183 | 分类号: | G01R31/3183 |
代理公司: | 西安通大专利代理有限责任公司 | 代理人: | 惠文轩 |
地址: | 710049陕*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 本发明涉及集成电路的测试领域,公开了一种集成电路的测试图形生成器。它由I型-线性反馈移位寄存器,解压缩电路,Johnson计数器以及异或门网络构成;所述I型-线性反馈移位寄存器的时钟频率为f1,生成序列Q=[Q1Q2…Qm],其中m为自然数;所述解压缩逻辑电路的输出序列S=[S1S2…SmSm+1…SN];所述Johnson计数器的时钟频率为f2,其生成序列J=[J1J2…JmJm+1…JN],其中N为自然数,且N>m;所述异或门网络的输出序列X=[X1X2…XmXm+1…XN]为测试图形生成器的输出序列;所述Johnson计数器的时钟频率f2=2N×f1,所述I型-线性反馈移位寄存器、解压缩电路、Johnson计数器以及异或门网络满足以下逻辑关系:(a)S=VQ,(b)X=J⊕S。 | ||
搜索关键词: | 一种 集成电路 测试 图形 生成器 | ||
【主权项】:
1、一种集成电路的测试图形生成器,其特征在于,包括:I型-线性反馈移位寄存器,解压缩电路,Johnson计数器以及异或门网络;所述I型-线性反馈移位寄存器的时钟频率为f1,生成序列Q=[Q1Q2...Qm],其中m为自然数;所述解压缩逻辑电路的输出序列S=[S1S2...SmSm+1...SN];所述Johnson计数器的时钟频率为f2,其生成序列J=[J1J2...JmJm+1...JN],其中N为自然数,且N>m;所述异或门网络的输出序列X=[X1X2...XmXm+1...XN]为测试图形生成器的输出序列;所述Johnson计数器的时钟频率f2=2N×f1,所述I型-线性反馈移位寄存器、解压缩电路、Johnson计数器以及异或门网络满足以下逻辑关系:(a)S1=Q1S5=Q2S6=Q3S7=Q4S8=0S9=Q5S15=Q12S17=Q13其中,j=1,2,3...;k=1,2,3...;递推关系如下式所示:
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