[发明专利]光敏复合介质栅MOSFET探测器有效

专利信息
申请号: 200910024504.6 申请日: 2009-02-18
公开(公告)号: CN101807547A 公开(公告)日: 2010-08-18
发明(设计)人: 阎锋;张荣;施毅 申请(专利权)人: 南京大学;阎锋
主分类号: H01L21/8234 分类号: H01L21/8234;H01L27/14
代理公司: 南京天翼专利代理有限责任公司 32112 代理人: 汤志武;王鹏翔
地址: 210093*** 国省代码: 江苏;32
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 光敏复合介质栅MOSFET探测器的设置方法,每个单元探测器的构成是:在基底P型半导体材料上方的两侧设有N型半导体区构成源极和漏极,基底正上方的分别设有二层绝缘介质材料和控制栅极,二层绝缘介质材料之间设有光电子存储层;与控制栅极接触的第二绝缘介质是是阻止光电子存储层中存储的电荷流失到栅极的材料,源漏极在搜集光电子和储存光电子到光电子储存层时均为悬空结构;第一绝缘介质即底层介质,采用氧化硅、Si0N或其它高介电常数介质;第二绝缘介质层的材料即顶层介质,采用氧化硅/氮化硅/氧化硅、氧化硅、氧化铝或其它高介电常数介质材料;且基底层或栅极面至少有一处为对探测器探测波长透明或半透明的窗口。
搜索关键词: 光敏 复合 介质 mosfet 探测器
【主权项】:
光敏复合介质栅MOSFET探测器的设置方法,其特征是每个单元探测器的构成是:在基底P型半导体材料上方的两侧设有N型半导体区构成源极和漏极,基底正上方的分别设有二层绝缘介质材料和控制栅极,二层绝缘介质材料之间设有光电子存储层,所述光电子存储层是多晶硅、Si3N4、InGaN1、金属膜或其它电子导体或半导体;控制栅极是多晶硅、金属或透明导电电极;与控制栅极接触的第二绝缘介质是是阻止光电子存储层中存储的电荷流失到栅极的材料,第二绝缘介质是宽带半导体;基底P型半导体材料接触的第一绝缘介质层在栅极低压下,有效隔离源极和漏极之间沟道和光电子存储层,在栅极高压下或光子能量较高时,把所述沟道中电子扫入光电子存储层;源漏极在搜集光电子和储存光电子到光电子储存层时均为悬空结构;第一绝缘介质即底层介质,采用氧化硅、SiON或其它高介电常数介质;第二绝缘介质层的材料即顶层介质,采用氧化硅/氮化硅/氧化硅、氧化硅/氧化铝/氧化硅、氧化硅、氧化铝或其它高介电常数介质材料;栅极与衬底的电压差要足够大时使得沟道中搜集的光电子能通过遂穿进入光电子存储层,且基底层或栅极面至少有一处为对探测器探测波长透明或半透明的窗口。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于南京大学;阎锋,未经南京大学;阎锋许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200910024504.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top