[发明专利]硅片检测工具及检测方法有效
| 申请号： | 200910025195.4 | 申请日： | 2009-02-23 |
| 公开（公告）号： | CN101504266A | 公开（公告）日： | 2009-08-12 |
| 发明（设计）人： | 邹春梅;龚海英 | 申请（专利权）人： | 无锡尚德太阳能电力有限公司 |
| 主分类号： | G01B3/14 | 分类号： | G01B3/14;G01B5/02;G01B5/08;B07C5/06 |
| 代理公司： | 无锡市大为专利商标事务所 | 代理人： | 曹祖良 |
| 地址： | 214028江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明涉及太阳电池制造领域，具体地说是关于太阳电池制造时对电池基体材料硅片的一种检测工具及检测方法。按照本发明提供的技术方案，在本发明的硅片检测模板上设置用于检测待测硅片的横向宽度的横向刻度与用于检测待测硅片的纵向宽度的纵向刻度；以及用于检测待测硅片的直边偏差的直边刻度，其中相对的两直边刻度的直边基准线之间的距离为待测硅片的标准尺寸；所述横向刻度的横向基准线与纵向刻度的纵向基准线相互垂直，横向基准线与纵向基准线的交点为所述模板的尺寸刻度中心。利用这种检测工具及检测方法，可方便、快捷、准确地检测出晶体硅片的外形尺寸，利于操作人员对硅片进行精确的分类和组织生产。 | ||
| 搜索关键词： | 硅片 检测工具 检测 方法 | ||
【主权项】：
1、一种硅片检测工具，其特征是：在模板(1)上设置用于检测待测硅片的横向宽度的横向刻度(2)与用于检测待测硅片的纵向宽度的纵向刻度(4)；以及用于检测待测硅片的直边偏差的直边刻度(3)；所述横向刻度(2)的横向基准线(7)与纵向刻度(4)的纵向基准线(8)相互垂直，横向基准线(7)与纵向基准线(8)的交点为所述模板(1)的尺寸刻度中心(6)。
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