[发明专利]HGC集成电路测试仪无效
| 申请号： | 200910030763.X | 申请日： | 2009-04-13 |
| 公开（公告）号： | CN101533065A | 公开（公告）日： | 2009-09-16 |
| 发明（设计）人： | 侯友良;蒋乐伟 | 申请（专利权）人： | 无锡红光微电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 无锡盛阳专利商标事务所（普通合伙） | 代理人： | 顾吉云 |
| 地址： | 214028江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明提供了HGC集成电路测试仪。其不需要分bin卡救可以进行分类信号的接受和发送，测试数据可以分类显示、分类保存；且可以进行良率统计，单颗产品测试时间统计。其包括软件部分、硬件部分以及外围配套设备，所述软件部分包括TRUBO.C基础软件、单项测试程序、GPIB卡、RELAY卡，分BIN卡，所述外围配套设备包括信号发生器、失真仪、稳压电源以及万用表，其特征在于：所述单项测试程序兼有并口分类信号的装置、测试数据显示分类装置以及单颗IC测试时间统计的装置。 | ||
| 搜索关键词： | hgc 集成电路 测试仪 | ||
【主权项】：
1、HGC集成电路测试仪，其包括软件部分、硬件部分以及外围配套设备，所述软件部分包括TRUBO.C基础软件、单项测试程序、GPIB卡、RELAY卡，分BIN卡，所述外围配套设备包括信号发生器、失真仪、稳压电源以及万用表，其特征在于：所述单项测试程序兼有并口分类信号的装置、测试数据显示分类装置以及单颗IC测试时间统计的装置。
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