[发明专利]表面等离子体共振生化分析的二维扫描检测方法及装置无效
申请号: | 200910041924.5 | 申请日: | 2009-08-18 |
公开(公告)号: | CN101634630A | 公开(公告)日: | 2010-01-27 |
发明(设计)人: | 钟金钢;张冼华 | 申请(专利权)人: | 暨南大学 |
主分类号: | G01N21/55 | 分类号: | G01N21/55 |
代理公司: | 广州粤高专利商标代理有限公司 | 代理人: | 何淑珍;廖继海 |
地址: | 510630广东省广*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明涉及表面等离子体共振生化传感扫描检测技术。本发明针对基于共振角检测的表面等离子体共振生化传感器,提出一种表面等离子体共振生化分析的二维扫描检测方法及装置。所谓二维扫描检测是对二维传感芯片进行单光束二维扫描检测。通过精心设计角度扫描的旋转轴位置和二维扫描路径,使得在角度扫描和二维扫描过程中,光束入射到被检测芯片上的入射点不偏离需检测的样品点,克服了基于共振角检测的表面等离子体共振生化传感器在二维扫描检测过程中,光束入射点容易偏离检测样品的难题,这对提高二维扫描检测的传感芯片样品密度,实现高精度高通量检测具有重要的意义,在生化分析中将具有广泛的应用前景。 | ||
搜索关键词: | 表面 等离子体 共振 生化 分析 二维 扫描 检测 方法 装置 | ||
【主权项】:
1、一种表面等离子体共振生化分析的二维扫描检测方法,其特征在于包括以下步骤:(1)将二维传感芯片(4)置于斜方棱镜(3)的前底面;斜方棱镜(3)中,入射侧面与出射侧面平行,前底面与后底面平行,前底面与入射侧面成α角,α角为锐角;X、Y、Z为直角坐标系的三个方向;斜方棱镜(3)置于X方向平移台(6)上,X方向平移台(6)下面设有旋转台(7)和Z方向平移台(8),旋转台(7)的转轴为Z方向;(2)光源(1)发出的光束(2)垂直入射到入射侧面进入斜方棱镜(3),依次经过前底面和后底面的反射,然后经出射侧面射到探测器(5);光束(2)在入射侧面上的入射点为M点,在前底面上的入射点为O点,在后底面上的入射点为P点、在出射侧面上的出射点为N点,MOPN构成的平面垂直于Z方向;M点与O点的连线与旋转台(7)的转轴垂直相交于W点;前底面与入射侧面的交线与MOPN构成的平面的交点为B”点;W点与B”的连线与X方向一致;1.05 η ≥ MW MO ≥ 0.95 η ; ]]> 式中,MW为M点到W点的距离,MO为M点到O点的距离,n为斜方棱镜(3)的折射率,α为斜方棱镜(3)的前底面与入射侧面的夹角,当不知道待测样品的共振角时,取φ = π 2 , ]]> 当知道待测样品的共振角为φ0时,取φ=φ0;(3)调节X方向平移台(6)和/或Z方向平移台(8),使光束(2)入射到二维传感芯片(4)的某一待测样品点;(4)旋转旋转台(7),使该待测样品点产生表面等离子体共振,完成单一待测样品点的测定;然后旋转旋转台(7)使光束(2)垂直入射到入射侧面;(5)调节X方向平移台(6)和/或Z方向平移台(8),使光束(2)入射到二维传感芯片(4)的其它待测样品点;(6)重复步骤(4)和步骤(5),完成二维传感芯片(4)的各待测样品点的检测。
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