[发明专利]减少测量点数的平面度评定方法无效
| 申请号： | 200910046279.6 | 申请日： | 2009-02-18 |
| 公开（公告）号： | CN101493321A | 公开（公告）日： | 2009-07-29 |
| 发明（设计）人： | 李郝林;王雪妮 | 申请（专利权）人： | 上海理工大学 |
| 主分类号： | G01B21/30 | 分类号： | G01B21/30 |
| 代理公司： | 上海申汇专利代理有限公司 | 代理人： | 吴宝根 |
| 地址： | 200093*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种减少测量点数的平面度评定方法，具体步骤是：按照现有的平面度测量方法，测量平面上若干个点位置上的平面误差值；根据这些有限的测量点值，通过最大熵方法，估计被测平面误差的概率分布；根据所估计的概率分布，在被测平面的其它位置上，产生测量点间平面误差的估计值，即对测量点进行插值；利用最小包容区域法、最小二乘法或对角线法的平面度误差评定方法，由平面度误差的测量值与插值位置平面误差的估计值，评定平面度误差；根据概率与统计理论和插值位置上多次估计值，分别计算平面度误差，并取这些计算结果的平均值作为最终的平面度误差评定值。本发明以最大熵方法为基础，利用有限的测量数据样本，确定被测平面误差的概率分布。 | ||
| 搜索关键词： | 减少 测量 点数 平面 评定 方法 | ||
【主权项】：
1.一种减少测量点数的平面度评定方法，其特征在于，具体步骤是：(1)按照现有的平面度测量方法，测量平面上若干个点位置上的平面误差值；(2)根据这些有限的测量点值，通过最大熵方法，估计被测平面误差的概率分布；(3)根据所估计的概率分布，在被测平面的其它位置上，产生测量点间平面误差的估计值，即对测量点进行插值；(4)利用最小包容区域法、最小二乘法或对角线法的平面度误差评定方法，由平面度误差的测量值与插值位置平面误差的估计值，评定平面度误差；(5)根据概率与统计理论和插值位置上多次估计值，分别计算平面度误差，并取这些计算结果的平均值作为最终的平面度误差评定值。
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