[发明专利]一种窄带滤光片光学谐振腔均匀度的检测方法无效
申请号: | 200910050423.3 | 申请日: | 2009-04-30 |
公开(公告)号: | CN101551295A | 公开(公告)日: | 2009-10-07 |
发明(设计)人: | 陆晟侃;陈磊 | 申请(专利权)人: | 上海海事大学 |
主分类号: | G01M11/00 | 分类号: | G01M11/00;G01M11/02 |
代理公司: | 上海天翔知识产权代理有限公司 | 代理人: | 陈学雯 |
地址: | 200135上海*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 一种窄带滤光片光学谐振腔均匀度的检测方法,涉及一种窄带滤光片的检测分析方法,我们将窄带滤光片进行透射谱的检测,对于每个窄带滤光片的中心波长λ及其对应的透射率T和光谱的半峰宽δλ从相应光谱图上准确读取,计算比值(δλ-δλ0)/(λT),比较这个比值,比值越大谐振腔的均匀性越差,本发明的有益效果是:能有效的检测出窄带滤光片光学谐振腔的均匀性。 | ||
搜索关键词: | 一种 窄带 滤光 光学 谐振腔 均匀 检测 方法 | ||
【主权项】:
1.一种窄带滤光片光学谐振腔均匀度的检测方法,其特征在于:(1)将选出的滤光片放入光谱仪中,将入射光射向滤光片;(2)测量滤光片的透射光谱,旋转窄带滤光片窄带透射光谱部分;(3)读取窄带透射光谱的中心波长λ及其对应的透射率T和光谱的半峰宽δλ;(4)从窄带滤光片设计膜系所计算得到的理论透射光谱中读取半峰宽δλ0,计算比值(δλ-δλ0)/(λT);(5)比较不同窄带滤光片之间的(δλ-δλ0)/(λT)值大小。
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