[发明专利]光盘抖晃特性测试装置及其测试方法无效

专利信息
申请号: 200910054169.4 申请日: 2009-06-30
公开(公告)号: CN101599276A 公开(公告)日: 2009-12-09
发明(设计)人: 周为;阮昊;施宏仁;余超群 申请(专利权)人: 中国科学院上海光学精密机械研究所
主分类号: G11B7/00 分类号: G11B7/00;G11B20/18
代理公司: 上海新天专利代理有限公司 代理人: 张泽纯
地址: 201800上*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种用于光盘测试和光盘播放等应用的光盘抖晃特性测试装置及其测试方法,该测试装置由光驱、预处理电路、外部时钟源、现场可编程门阵列、计算机通信接口和计算机所构成,所述的现场可编程门阵列包括时钟管理模块、边沿检测模块、时钟计数模块、脉宽计算模块、FIFO缓冲模块和逻辑控制模块。该测试方法是在对脉冲进行时钟周期计数测量的同时,利用移相时钟分区来检测脉冲的边沿,以实现脉冲宽度的精细测量。本发明具有原理简单,实现方便,灵活、稳定和性价比高等优点。
搜索关键词: 光盘 特性 测试 装置 及其 方法
【主权项】:
1、一种光盘抖晃特性测试装置,其特征是该测试装置是由光驱(5)、预处理电路(2)、外部时钟源(3)、现场可编程门阵列(1)、计算机通信接口(4)和计算机(6)所构成,其连接关系是:所述的现场可编程门阵列(1)包括时钟管理模块(1-1)、边沿检测模块(1-2)、时钟计数模块(1-3)、脉宽计算模块(1-4)、FIFO缓冲模块(1-5)和逻辑控制模块(1-6),所述的时钟管理模块(1-1)的输入端与所述的外部时钟源(3)的输出端口相连,所述的时钟管理模块(1-1)的四路分别移相为0°、45°、90°和135°的移相时钟输出口(CLK、CLK45、CLK90和CLK135)与所述的边沿检测模块(1-2)的时钟输入口相连,所述的时钟管理模块(1-1)的0°移相时钟输出口(CLK)还分别与所述的时钟计数模块(1-3)和逻辑控制模块(1-6)的时钟输入口相连,所述的逻辑控制模块(1-6)控制各模块的工作,所述的时钟计数模块(1-3)、边沿检测模块(1-2)的信号输入端口分别与预处理电路(2)输出的数字化HF信号端口相连,所述的时钟计数模块(1-3)、边沿检测模块(1-2)的输出端与所述的脉宽计算模块(1-4)的输入端相连,所述的脉宽计算模块(1-4)的输出端与所述的FIFO缓冲模块(1-5)的输入端相连,该FIFO缓冲模块(1-5)的输出端与所述的计算机通信接口(4)的输入端口相连,所述的预处理电路(2)输出端口分别与所述的的边沿检测模块(1-2)和时钟计数模块(1-3)的输入端相连,所述的逻辑接口模块(1-6)分别与所述的边沿检测模块(1-2)、时钟计数模块(1-3)、脉宽计算模块(1-4)、FIFO缓冲模块(1-5)、计算机通信接口(5)和计算机(6)之间建立有通讯连接关系;所述的光驱(5)输出端口与所述的预处理电路(2)的输入端口相连,该预处理电路(2)的输出端口与所述的现场可编程门阵列(1)的数字化HF信号输入端口相连,所述的外部时钟源(3)的输出端口与所述的现场可编程门阵列(1)的时钟输入端口相连,所述的现场可编程门阵列(1)的输出端口通过所述的计算机通信接口(4)与所述的计算机(6)相连。
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