[发明专利]形成焊接凸块的方法有效

专利信息
申请号: 200910055365.3 申请日: 2009-07-24
公开(公告)号: CN101964315A 公开(公告)日: 2011-02-02
发明(设计)人: 佟大明;梅娜 申请(专利权)人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
主分类号: H01L21/60 分类号: H01L21/60
代理公司: 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人: 屈蘅;李时云
地址: 20120*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及一种形成焊接凸块的方法,用于实现晶圆级芯片封装,包括下列步骤:提供半导体基底;在基底上形成铜材质的重布线焊垫;对重布线焊垫进行表面处理,去除其表面的铜氧化物;在基底和重布线焊垫上形成再钝化层,在需要形成焊接凸块的位置作开口,露出重布线焊垫;用助焊剂清洗出露的重布线焊垫;在开口内的重布线焊垫上形成焊接凸块。通过对重布线焊垫进行表面处理,去除其表面的铜氧化物,然后再形成再钝化层,再钝化层就与铜单质表面贴合,后续的用助焊剂清洗出露的重布线焊垫时,再钝化层与重布线焊垫之间不会产生缝隙,也就不会产生渗镀现象,因而提高了芯片的性能和质量。
搜索关键词: 形成 焊接 方法
【主权项】:
一种形成焊接凸块的方法,包括下列步骤:提供半导体基底;在基底上形成铜材质的重布线焊垫;对重布线焊垫进行表面处理,去除其表面的铜氧化物;在基底和重布线焊垫上形成再钝化层,在需要形成焊接凸块的位置作开口,露出重布线焊垫;用助焊剂清洗出露的重布线焊垫;在开口内的重布线焊垫上形成焊接凸块。
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