[发明专利]测量激光频率变化的装置和方法无效
| 申请号： | 200910056645.6 | 申请日： | 2009-08-19 |
| 公开（公告）号： | CN101629851A | 公开（公告）日： | 2010-01-20 |
| 发明（设计）人： | 王利娟;刘立人;栾竹;孙建锋;周煜;闫爱民;戴恩文;许楠 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
| 主分类号： | G01J11/00 | 分类号： | G01J11/00 |
| 代理公司： | 上海新天专利代理有限公司 | 代理人： | 张泽纯 |
| 地址： | 201800上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种测量激光频率变化的装置和方法，该装置由输入平行平板、相位延迟平行平板、第一剪切平板、第二剪切平板、输出平行平板、光电探测器线性阵列和信号处理系统所组成，本发明装置可实时测量激光频率变化量。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 激光 频率 变化 装置 方法 | ||
【主权项】：
1、一种测量激光频率变化的装置，其特征在于该装置由输入平行平板(1)、相位延迟平行平板(2)、第一剪切平板(3)、第二剪切平板(4)、输出平行平板(5)、光电探测器线性阵列(6)和信号处理系统(7)所组成，其位置关系是：所述的输入平行平板(1)与所述的输出平行平板(5)的材料与厚度均相同且平行放置，在所述的输入平行平板(1)的第一介质面(101)的反射光路中设置所述的相位延迟平行平板(2)和第一剪切平板(3)，在所述的输入平行平板(1)的第二介质面(102)的反射光路中设置第二剪切平板(4)，所述的第一剪切平板(3)和第二剪切平板(4)的材料与厚度均相同，所述的第一剪切平板(3)和第二剪切平板(4)倾斜方向相反地在所述的第一剪切平板(3)和第二剪切平板(4)的公共轴的两边对称放置，在所述输出平行平板(5)的出射光路中设置所述的光电探测器线性阵列(6)，该光电探测器线性阵列(6)由性能参数相同的第一光电探测器(601)、第二光电探测器(602)、第三光电探测器(603)、第四光电探测器(604)和第五光电探测器(605)等间距直线排列形成，该光电探测器线性阵列(6)的输出端与所述信号处理系统(7)的输入端相连。
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