[发明专利]温度频率校正装置的测量系统和方法有效

专利信息
申请号: 200910056862.5 申请日: 2009-01-23
公开(公告)号: CN101488751A 公开(公告)日: 2009-07-22
发明(设计)人: 曹伟勋;张幂 申请(专利权)人: 凯涛电子(上海)有限公司
主分类号: H03L1/02 分类号: H03L1/02
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 201203上海市浦东新区张江高科技*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供一种温度频率校正装置的测量系统,其包括可在预定温度范围内调节其内温度的温度箱、收容于温度箱内的温度频率校正装置、记录装置、拟合装置、再采样装置和计算装置。所述记录装置记录所述温度频率校正装置在各离散内部温度值下的期望输出频率值及相应的内部温度值。所述拟合装置根据各离散内部温度值及相应的期望输出频率值拟合出连续的温度频率曲线。所述再采样装置以预定采样温度间隔对拟合出的温度频率曲线进行再采样以获得各采样温度值对应的频率值。所述计算装置根据各采样温度值及相应的频率值计算得到温度频率校正控制数据,并将所述温度频率校正控制数据导入所述温度频率校正装置的存储单元内。
搜索关键词: 温度 频率 校正 装置 测量 系统 方法
【主权项】:
1、一种温度频率校正装置的测量系统,其特征在于,其包括:温度箱,用于在预定温度范围内调节其内温度;收容于温度箱内的温度频率校正装置,其包括晶体振荡器、温度感应单元、频率锁定单元和存储单元,所述晶体振荡器产生参考频率,所述频率锁定单元基于所述参考频率信号生成期望输出频率,所述温度感应单元用于感应所述温度频率校正装置的内部温度;记录装置,用于记录所述温度频率校正装置在各离散内部温度值下的期望输出频率值及相应的内部温度值;拟合装置,用于根据各离散内部温度值及相应的期望输出频率值拟合出连续的温度频率曲线;再采样装置,用于以预定采样温度间隔对拟合出的温度频率曲线进行再采样以获得各采样温度值对应的频率值;计算装置,用于根据各采样温度值及相应的频率值计算得到温度频率校正控制数据,并将所述温度频率校正控制数据导入所述温度频率校正装置的存储单元内。
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