[发明专利]一种采用单MCU实现多通道异步化测试的方法无效
| 申请号： | 200910059193.7 | 申请日： | 2009-05-06 |
| 公开（公告）号： | CN101603884A | 公开（公告）日： | 2009-12-16 |
| 发明（设计）人： | 张永林 | 申请（专利权）人： | 和芯微电子（四川）有限公司 |
| 主分类号： | G01M19/00 | 分类号： | G01M19/00 |
| 代理公司： | 成都天嘉专利事务所（普通合伙） | 代理人： | 徐 丰 |
| 地址： | 610041四川省*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种采用单MCU实现多通道异步化测试的方法，其特征在于：将一个单MCU通过多通道分选机与多个单通道测试系统组合在一起形成多通道测试系统，这样就可以同时对多个产品进行测试；本发明可以充分利用单MCU测试系统的资源，并且实现了在单MCU测试系统上进行多个产品的同测，还可以提高测试系统效率，特别适用于针对机械手用的单MCU多通道测试机系统。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 采用 mcu 实现 通道 异步 测试 方法 | ||
【主权项】：
1、一种采用单MCU实现多通道异步化测试的方法，其特征在于：将一个单MCU通过多通道分选机与多个单通道测试系统组合形成同时对多个产品进行测试的多通道测试系统；所述多通道分选机与多个单通道测试系统组合，是通过一根通讯电缆连接单MCU测试系统与多通道分选机的通讯口；或者，依次将多通道分选机的通道1到n连接到单MCU测试系统组合形成多通道测试系统，其中n为整数。
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