[发明专利]一种测试向量的调节对比方法有效
| 申请号： | 200910060234.4 | 申请日： | 2009-08-03 |
| 公开（公告）号： | CN101644744A | 公开（公告）日： | 2010-02-10 |
| 发明（设计）人： | 危建国 | 申请（专利权）人： | 和芯微电子（四川）有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/317 | 分类号： | G01R31/317 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 610041四川省*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种测试向量的调节对比方法，将存储器中数据测试向量输入至待测系统，待测系统输出回流数据测试向量，标准数据测试向量和回流数据测试向量进行对比的过程中，判断标准数据测试向量是否含有忽略数据，当含有忽略数据时，对忽略数据进行解码并屏蔽忽略数据的位置，生成屏蔽数据测试向量，同时将回流数据测试向量相同的位置也屏蔽，然后将屏蔽数据测试向量与回流数据测试向量进行比较判断是否相同；当不含有忽略数据时，标准数据测试向量与回流数据测试向量直接进行比较；本方法采用硬件实时比较，回流数据不需放回存储器，从而可以大大节省存储空间；由于是硬件实时对比方法，忽略数据位经过特殊处理后参与比较，测试时间较短。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测试 向量 调节 对比 方法 | ||
【主权项】：
1、一种测试向量的调节对比方法，将存储器中的数据测试向量输入至待测系统，待测系统输出回流数据测试向量，在存储器中的标准数据测试向量和回流数据测试向量进行对比的过程中，其特征在于：首先判断标准数据测试向量是否含有忽略数据，当含有忽略数据时，对忽略数据进行解码，并将忽略数据的位置屏蔽，生成屏蔽数据测试向量，同时将回流数据测试向量相同的位置也屏蔽，然后将屏蔽数据测试向量与回流数据测试向量进行比较判断是否相同；当不含有忽略数据时，标准数据测试向量与回流数据测试向量直接进行比较判断是否相同。
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