[发明专利]安装在扫描探针显微镜中的原位微型单元大电流测量装置及电学测试方法无效
| 申请号： | 200910066741.9 | 申请日： | 2009-04-02 |
| 公开（公告）号： | CN101644728A | 公开（公告）日： | 2010-02-10 |
| 发明（设计）人： | 崔玉明;胡士奇 | 申请（专利权）人： | 吉林大学 |
| 主分类号： | G01R19/25 | 分类号： | G01R19/25;G01N13/10 |
| 代理公司： | 长春吉大专利代理有限责任公司 | 代理人： | 王寿珍;朱世林 |
| 地址： | 130012吉*** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： | 本发明属于纳米材料类超导性能及电学性能测量领域。一种安装在扫描探针显微镜中的原位微型单元大电流测量装置，包括样品平台、电路部分，其特征在于它还包括一个能放入扫描探针显微镜中的原位电学测量平台，其上设置一个支撑部分为绝缘衬底(4)的探针夹持器(3)，探针夹持器(3)杠杆式安装在绝缘衬底(4)上，并通过连接电缆(2)外接可控电压源。本发明利用扫描探针显微镜原位实时记录待测微晶体功能材料在大功率电场作用下的电学性质以及电场诱发的微晶体结构状态变化，将微型单元的电学性质与微观结构变化直接对应起来，从纳米尺度上揭示微晶体功能材料的类超导大功率电学性质。 | ||
| 搜索关键词： | 安装 扫描 探针 显微镜 中的 原位 微型 单元 电流 测量 装置 电学 测试 方法 | ||
【主权项】：
1.安装在扫描探针显微镜中的原位微型单元大电流测量装置，包括样品平台、电路部分，其特征在于它还包括一个能放入扫描探针显微镜中的原位电学测量平台，其上设置一个支撑部分为绝缘衬底(4)的探针夹持器(3)，探针夹持器(3)杠杆式安装在绝缘衬底(4)上，并通过连接电缆(2)外接可控电压源。
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