[发明专利]利用柱透镜进行像散纠正的光谱仪无效
申请号: | 200910070175.9 | 申请日: | 2009-08-21 |
公开(公告)号: | CN101634591A | 公开(公告)日: | 2010-01-27 |
发明(设计)人: | 徐晓轩;王斌 | 申请(专利权)人: | 南开大学 |
主分类号: | G01J3/28 | 分类号: | G01J3/28 |
代理公司: | 天津佳盟知识产权代理有限公司 | 代理人: | 侯 力 |
地址: | 300071*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | 一种利用柱透镜进行像散纠正的光谱仪。该光谱仪包括入射狭缝、柱面透镜、凹面准直反射镜、平面光栅、凹面聚焦反射镜和线阵列CCD探测器,入射光束依次经入射狭缝和柱面透镜后,照射到凹面准直反射镜上,经凹面准直反射镜反射的光束平行照射到平面光栅上,经该平面光栅分光后的光束照射到聚焦反射镜上,并被聚焦到线阵列CCD探测器上。本发明使用柱透镜聚焦,纠正光谱仪像散,相比目前常采用的光谱仪光路,在成本提高不多的情况下,提高了光谱仪的测量灵敏度。该仪器具有体积小,价格低廉的特点。 | ||
搜索关键词: | 利用 透镜 进行 纠正 光谱仪 | ||
【主权项】:
1、一种利用柱透镜进行像散纠正的光谱仪,其特征在于该光谱仪包括入射狭缝、柱面透镜、凹面准直反射镜、平面光栅、凹面聚焦反射镜和线阵列CCD探测器,入射光束依次经入射狭缝和柱面透镜后,照射到凹面准直反射镜上,经凹面准直反射镜反射的光束平行照射到平面光栅上,经该平面光栅分光后的光束照射到聚焦反射镜上,并被聚焦到线阵列CCD探测器上。
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