[发明专利]一种基于二维Gamma分布的SAR图像变化检测方法无效

专利信息
申请号: 200910077021.2 申请日: 2009-01-16
公开(公告)号: CN101493520A 公开(公告)日: 2009-07-29
发明(设计)人: 孙进平;洪文;胡睿;张耀天 申请(专利权)人: 北京航空航天大学;中国科学院电子学研究所
主分类号: G01S7/41 分类号: G01S7/41;G06T5/00
代理公司: 北京科迪生专利代理有限责任公司 代理人: 李新华;徐开翟
地址: 100083*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种基于二维Gamma分布的SAR图像变化检测方法,包括以下步骤:根据输入的SAR待测图像和参考图像数据,利用矩估计法估计二维Gamma分布的参数;根据Neyman-Pearson准则构造似然比统计量,在二维Gamma分布的基础上利用图像数据相关性进行杂波抑制,得到杂波抑制后的图像;对杂波抑制后的图像进行CFAR归一化,并设定全局阈值将图像二值化,得到初步的检测结果;对检测后得到的二值图像进行形态学处理、计数滤波及目标聚类,进一步消除孤立虚警点,得到最终的检测结果;本发明在低虚警率的基础上达到了较高的检测率,适合在各种杂波环境,特别是强杂波环境下检测人造目标。
搜索关键词: 一种 基于 二维 gamma 分布 sar 图像 变化 检测 方法
【主权项】:
1、一种基于二维Gamma分布的SAR图像变化检测方法,其特征在于:包括以下几个步骤:(1)根据输入的SAR待测图像和参考图像数据,利用矩估计法估计二维Gamma分布的参数;(2)根据Neyman-Pearson准则构造似然比统计量,在二维Gamma分布的基础上利用图像数据相关性进行杂波抑制,得到杂波抑制后的图像;(3)对杂波抑制后的图像进行CFAR归一化,并设定全局阈值将图像二值化,得到初步的检测结果;(4)对检测后得到的二值图像进行形态学处理、计数滤波及目标聚类,进一步消除孤立虚警点,得到最终的检测结果。
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