[发明专利]强腐蚀性介质相界面的测量方法有效
申请号: | 200910078574.X | 申请日: | 2009-02-26 |
公开(公告)号: | CN101493353A | 公开(公告)日: | 2009-07-29 |
发明(设计)人: | 谭梅芳;曾本忠;许鸿禧;张金刚;余道腾;柏荣 | 申请(专利权)人: | 中昊晨光化工研究院 |
主分类号: | G01F23/14 | 分类号: | G01F23/14 |
代理公司: | 北京路浩知识产权代理有限公司 | 代理人: | 王朋飞 |
地址: | 643201*** | 国省代码: | 四川;51 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及一种相界面的测量方法。本发明是将引压液以相同流量从上下引压口压入待测相,并测定引压口的压力,根据上下引压口的压力差ΔP、上引压口的高度H以及待测相中两相上层相的密度ρ1和下层相密度ρ2,计算出相界面的高度h:h=(ΔP-ρ1×g×H)/(ρ2-ρ1)/g。本发明采用普通仪表就可以测量强腐蚀性介质的相界面高度,成本低廉,测量方法简单应用广泛,除了特别适用于测量强腐蚀性介质的相界面高度,也可以用来测量液面高度,测量密度相近的介质间的相界面高度和测量多相混合物的各个相界面高度。 | ||
搜索关键词: | 腐蚀性 介质 界面 测量方法 | ||
【主权项】:
1、一种测量相界面的方法,是将引压液以相同流量从各引压口压入待测相,并测定引压口的压力,根据引压口的压力差ΔP、引压口的相对高度H以及待测相中上层相的密度ρ1和下层相密度ρ2,计算出相界面的高度h:h=(ΔP-ρ1×g×H)/(ρ2-ρ1)。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中昊晨光化工研究院,未经中昊晨光化工研究院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200910078574.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。