[发明专利]一种用碳纳米管实现上下两层导电材料垂直互连的方法有效
申请号: | 200910082900.4 | 申请日: | 2009-04-24 |
公开(公告)号: | CN101562148A | 公开(公告)日: | 2009-10-21 |
发明(设计)人: | 魏芹芹;傅云义;黄如;张兴 | 申请(专利权)人: | 北京大学 |
主分类号: | H01L21/768 | 分类号: | H01L21/768;B82B3/00 |
代理公司: | 北京君尚知识产权代理事务所(普通合伙) | 代理人: | 贾晓玲 |
地址: | 100871北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种用碳纳米管实现上下两层导电材料垂直互连的方法,属于集成电路中的互连技术。该方法包括在基底上制备一包括上、下两水平面的垂直结构;在上述垂直结构上淀积导电材料,形成上、下两个导电层;制备碳纳米管溶液,将该碳纳米管溶液滴至上述垂直结构上,并在上、下导电层之间施加直流电或交流电,碳纳米管的两端分别搭接在两层导电材料上;淀积绝缘介质材料,形成碳纳米管通孔结构,从而实现上、下两层导电材料之间的垂直互连。本发明中碳纳米管制备与组装过程分别单独进行,且后者在室温下进行,因此该互连技术可避免碳纳米管制备过程对电路芯片所致的污染,可与现有的CMOS工艺兼容。 | ||
搜索关键词: | 一种 纳米 实现 上下 导电 材料 垂直 互连 方法 | ||
【主权项】:
1、一种上、下两层导电材料之间的垂直互连方法,其步骤包括:1)在基底上制备一包括上、下两水平面的垂直结构;2)在上述垂直结构上淀积导电材料,形成上、下两个导电层;3)制备碳纳米管溶液,将该碳纳米管溶液滴到上述垂直结构上,并在上、下导电层之间施加直流电或交流电,碳纳米管的两端分别紧密到搭接在两层导电材料上;4)淀积绝缘介质材料,形成碳纳米管通孔结构,从而实现上、下两层导电材料之间的垂直互连。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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