[发明专利]一种掩蔽微结构的制备方法无效

专利信息
申请号: 200910082984.1 申请日: 2009-04-28
公开(公告)号: CN101559916A 公开(公告)日: 2009-10-21
发明(设计)人: 张大成;李婷;刘鹏;王玮;罗葵;田大宇;李静;王颖 申请(专利权)人: 北京大学
主分类号: B81C1/00 分类号: B81C1/00
代理公司: 北京君尚知识产权代理事务所(普通合伙) 代理人: 贾晓玲
地址: 100871北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种掩蔽微结构的制备方法,属于微电子机械系统技术领域。该方法包括:在硅基片表面制成厚度为1~2μm的二氧化硅掩膜,并图形化,对硅进行深刻蚀,形成微槽或微开口结构;对微槽或微开口结构进行表面钝化;刻蚀去掉微槽或微开口结构的底部钝化层,对微槽或微开口结构的底部进行预刻蚀;接着继续各向同性刻蚀,形成微结构;然后,去掉硅片表面的掩膜和微槽或微开口结构侧壁的钝化层;回填形成掩蔽微结构。本发明利用厚掩膜很好的保护了硅片表面,不会出现针孔和钻蚀的现象。且掩蔽微结构的各向同性刻蚀在预刻蚀之后进行,可控制掩蔽微结构的截面形状,免去了复杂的工艺参数调整,也可避免对精密刻蚀设备的依赖。
搜索关键词: 一种 掩蔽 微结构 制备 方法
【主权项】:
1、一种掩蔽微结构的制备方法,其步骤包括:1)在硅基片表面制成厚度为1~2μm的二氧化硅掩膜,并图形化,对硅进行深刻蚀,形成微槽或微开口结构;2)对上述微槽或微开口结构进行表面钝化;3)刻蚀去掉上述微槽或微开口结构的底部钝化层;4)对上述微槽或微开口结构的底部进行一定深度的预刻蚀,接着再各向同性刻蚀,形成微流道或微腔室;5)去掉硅片表面的掩膜,以及微槽或微开口结构侧壁的钝化层;6)回填上述微槽或微开口结构,在硅片内部形成掩蔽的微流道或微腔室结构。
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