[发明专利]一种非均匀分布的多基线合成孔径雷达三维成像方法有效
申请号: | 200910084163.1 | 申请日: | 2009-05-20 |
公开(公告)号: | CN101893710A | 公开(公告)日: | 2010-11-24 |
发明(设计)人: | 王彦平;王斌;洪文;谭维贤;吴一戎 | 申请(专利权)人: | 中国科学院电子学研究所 |
主分类号: | G01S13/90 | 分类号: | G01S13/90 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 周国城 |
地址: | 100080 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种非均匀分布的多基线合成孔径雷达三维成像方法,涉及三维成像技术,首先将各次飞行观测得到的原始回波数据通过二维聚焦得到单视复图像,然后将单视复图像序列配准,获取观测目标在不同视角下的非均匀采样数据;针对这些非均匀采样的数据,经过解斜处理进行相位调制;然后使用基于缺失数据幅度相位估计的方法,通过最大化观测数据数学期望的迭代运算,估计出原始均匀采样数据的空间谱,从而实现对目标高度方向的成像;结合每条轨道二维成像中得到的目标二维图像,完成对目标的三维成像。本发明基于幅度相位估计方法进行高度向成像,降低了由于多基线非均匀分布所造成的高程模糊,获取清晰的高分辨率的目标三维成像结果。 | ||
搜索关键词: | 一种 均匀分布 基线 合成孔径雷达 三维 成像 方法 | ||
【主权项】:
一种非均匀分布的多基线合成孔径雷达三维成像方法,是通过雷达平台在不同高度位置的多次重复飞行采集多基线合成孔径雷达的数据,各次飞行轨迹之间是非等间隔分布的,获取的多基线合成孔径雷达数据是非均匀采样的;其特征在于:多基线合成孔径雷达各次飞行的轨迹保持平行,各次飞行是正侧视、斜视、条带式或聚束式观测模式成像,能够单独生成观测场景的二维图像;各次轨迹的排列方向,是沿垂直高度方向排列,或沿水平方向排列,或沿与水平方向有一夹角的方向排列;在基线非均匀分布的情况下,使用缺失数据的幅度和相位估计方法进行对非均匀采样的高度向数据求取空间谱,得目标沿高度方向的分辨率图像,结合二维图像,实现对目标沿高度方向的三维成像。
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